Sensofar大視野3D光學(xué)輪廓儀S wide是專用系統(tǒng)，適用于快速測(cè)量大樣品區(qū)域，測(cè)量面積最高可達(dá) 300 x 300 mm。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測(cè)量?jī)x器的所有優(yōu)點(diǎn)。一鍵式采集功能，易于使用。

北京儀光科技，專業(yè)的顯微形貌解決方案提供商！ 北京儀光科技有限公司是一家專門從事各類型光學(xué)顯微鏡、三維表面輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、材料樣品制備、科研相機(jī)等實(shí)驗(yàn)室科研儀器銷售及服務(wù)的綜合供應(yīng)商，公司致力于為科研、工業(yè)、生命科學(xué)等用戶提供專業(yè)的顯微形貌分析解決方案。主營產(chǎn)品包括各品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、測(cè)量顯微鏡、超景深顯微鏡、三維共聚焦顯微鏡、生物顯微鏡、影像測(cè)量?jī)x、三維光學(xué)輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、熱臺(tái)顯微分析系統(tǒng)、清潔度分析儀、科研相機(jī)、高速攝像機(jī)、金相及巖相制樣設(shè)備等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測(cè)等全套分析檢測(cè)解決方案。此外，公司也提供科學(xué)儀器的周邊配套裝置，比如冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、攝像頭、光學(xué)平臺(tái)等產(chǎn)品。 我司同時(shí)提供專業(yè)的材料分析應(yīng)用解決方案，包括全套顯微清潔度分析系統(tǒng)、全自動(dòng)鑄件孔隙率分析系統(tǒng)、全自動(dòng)夾雜物分析系統(tǒng)、全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)、汽車焊縫專業(yè)測(cè)量系統(tǒng)、自動(dòng)型晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、自動(dòng)煤巖顯微分析系統(tǒng)、偏光冷熱臺(tái)顯微分析系統(tǒng)、偏光陰極發(fā)光臺(tái)顯微分析系統(tǒng)、偏光石棉檢測(cè)系統(tǒng)、瀝青中間相偏光觀察系統(tǒng)等專業(yè)的應(yīng)用解決方案。 北京儀光科技有限公司是西班牙Sensofar、美國Zygo、丹麥司特爾（Struers）、德國徠卡（Leica）、德國蔡司（Zeiss）、日本奧林巴斯(Olympus)、日本尼康(Nikon)、美國RMC、德國PCO等著名儀器公司的特許經(jīng)銷商。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、軍工、船舶、汽車、工業(yè)材料、生命科學(xué)、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測(cè)分析等各個(gè)行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為客戶提供完善的解決方案！ 企業(yè)理念：專業(yè)成就品質(zhì)，服務(wù)贏得信任！ Focus on microanalysis !

Sensofar大視野3D光學(xué)輪廓儀S wide是專用系統(tǒng)，適用于快速測(cè)量大樣品區(qū)域，測(cè)量面積最高可達(dá) 300 x 300 mm。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測(cè)量?jī)x器的所有優(yōu)點(diǎn)。一鍵式采集功能，易于使用。

 Sensofar大視野3D光學(xué)輪廓儀S wide

一、應(yīng)用領(lǐng)域：大面積 3D 光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

• 先進(jìn)制造業(yè)
• 考古學(xué)與古生物學(xué)
• 消費(fèi)類電子產(chǎn)品
• 醫(yī)療設(shè)備
• 模塑
• 光學(xué)
• 鐘表業(yè)

Sensofar大視野3D光學(xué)輪廓儀S wide
二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. 亞微米高度可重復(fù)性，可擴(kuò)展整個(gè)區(qū)域內(nèi)

 

 

2. 無需 Z 軸掃描即可測(cè)量最高 40mm 的單次測(cè)量高度

3. 具有極低場(chǎng)失真的雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡頭，提供精確的測(cè)量

 

4. 可追溯性：采用ISO 標(biāo)準(zhǔn)

每一款 S wide 產(chǎn)品都是為提供準(zhǔn)確且可追溯的測(cè)量結(jié)果而制造的。系統(tǒng)根據(jù) ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)。

 

5. 與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測(cè)量

6. 表面紋理測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)

我們的所有系統(tǒng)精心制造，提供準(zhǔn)確、可追溯的測(cè)量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關(guān)于下列參數(shù)的指南的可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)：Z 放大系數(shù)、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。

本頁產(chǎn)品地址：http://jssdj.com/sell/show-9549022.html