三維光學輪廓儀ContourX-500 是全球功能最全面的自動化臺式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計量。ContourX-500 具有卓越的 Z 軸分辨率和準確度，并具備布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受業(yè)界認可的所有優(yōu)勢，而占地面積更小

北京儀光科技，專業(yè)的顯微形貌解決方案提供商！ 北京儀光科技有限公司是一家專門從事各類型光學顯微鏡、三維表面輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、材料樣品制備、科研相機等實驗室科研儀器銷售及服務的綜合供應商，公司致力于為科研、工業(yè)、生命科學等用戶提供專業(yè)的顯微形貌分析解決方案。主營產(chǎn)品包括各品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、測量顯微鏡、超景深顯微鏡、三維共聚焦顯微鏡、生物顯微鏡、影像測量儀、三維光學輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、熱臺顯微分析系統(tǒng)、清潔度分析儀、科研相機、高速攝像機、金相及巖相制樣設備等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應用檢測等全套分析檢測解決方案。此外，公司也提供科學儀器的周邊配套裝置，比如冷熱臺、陰極發(fā)光臺、攝像頭、光學平臺等產(chǎn)品。 我司同時提供專業(yè)的材料分析應用解決方案，包括全套顯微清潔度分析系統(tǒng)、全自動鑄件孔隙率分析系統(tǒng)、全自動夾雜物分析系統(tǒng)、全自動顆粒分析系統(tǒng)、汽車焊縫專業(yè)測量系統(tǒng)、自動型晶圓缺陷檢測系統(tǒng)、自動煤巖顯微分析系統(tǒng)、偏光冷熱臺顯微分析系統(tǒng)、偏光陰極發(fā)光臺顯微分析系統(tǒng)、偏光石棉檢測系統(tǒng)、瀝青中間相偏光觀察系統(tǒng)等專業(yè)的應用解決方案。 北京儀光科技有限公司是西班牙Sensofar、美國Zygo、丹麥司特爾（Struers）、德國徠卡（Leica）、德國蔡司（Zeiss）、日本奧林巴斯(Olympus)、日本尼康(Nikon)、美國RMC、德國PCO等著名儀器公司的特許經(jīng)銷商。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、軍工、船舶、汽車、工業(yè)材料、生命科學、電子半導體、電力、能源、檢測分析等各個行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務為客戶提供完善的解決方案！ 企業(yè)理念：專業(yè)成就品質(zhì)，服務贏得信任！ Focus on microanalysis !

ContourX家族的桌面旗艦型號，全自動設計，帶編碼器的樣品臺，頭部傾斜設計，和AcuityXR實現(xiàn)高橫向分辨率

 

三維光學輪廓儀ContourX-500 是全球功能最全面的自動化臺式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計量。三維光學輪廓儀ContourX-500  具有卓越的 Z 軸分辨率和準確度，并具備布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受業(yè)界認可的所有優(yōu)勢，而占地面積更小。該款輪廓儀可輕松自主配置，適用于從精密加工表面和半導體工藝的質(zhì)量保證／質(zhì)量控制（QA/QC）計量到眼科和微機電系統(tǒng)（MEMS）器件的研發(fā)表征等廣泛的復雜應用。

傾斜/俯仰

光學頭

旋轉(zhuǎn)測頭進行不同角度測量表面特征時，將跟蹤誤差減至最低。

最先進

用戶界面

提供對大量預編程過濾器和分析程序的直接調(diào)用。

集成式

氣浮隔震

在緊湊空間內(nèi)提供最佳計量精度。

特點

專為卓越臺式計量設計

布魯克專有的光學頭傾斜/俯仰技術(shù)，為用戶生產(chǎn)設置和檢測提供極大的靈活度。布魯克將自動傾斜/俯仰功能與顯微鏡頭中的光路相結(jié)合，實現(xiàn)了檢測點與視線的結(jié)合，不受傾斜影響，從而減少操作人員的干預，提供最大可重現(xiàn)性。其他硬件功能包括創(chuàng)新工作臺設計，可提升拼接能力；配備一只 5MP 攝像頭，并采用 1200x1000 測量陣列，可降低噪聲、擴大視場并提高橫向分辨率。ContourX-500 將這些功能與自動化平臺設置和物鏡相融合，而且僅占較小的空間，成為“按需測量”研發(fā)和工業(yè)計量的理想系統(tǒng)。

 

傳統(tǒng)的俯仰滾動工作臺設計需要操作人員調(diào)整五個旋轉(zhuǎn)軸，以將檢測點保持在視線上進行測量。布魯克獨特的光學頭傾斜/俯仰設計，不受傾斜影響，都能將視線保持在檢測點上，從而優(yōu)化圖像采集，并大幅縮短數(shù)據(jù)獲取時間。

直接使用多種分析

 

分析微流體器件的底部通道，通過 Vision64 的多個區(qū)域直接提取。

三維光學輪廓儀ContourX-500 采用布魯克簡單而強大的 VisionXpress? 和 Vision64® 用戶界面，提供數(shù)千種自定義分析以提升實驗室和工廠的效率。布魯克全新通用掃描干涉（USI）測量模式可提供全自動、自感知式表面紋理、優(yōu)化信號處理，同時對所分析的表面形貌執(zhí)行最準確、最實際的計算。

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