我們?yōu)槟闾峁┎牧媳碚鳒y(cè)量的一系列產(chǎn)品：

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一表征：壓電材料d33測(cè)量?jī)x
1、ZJ-3型壓電測(cè)量?jī)x

2、ZJ-4型d33測(cè)量?jī)x

3、ZJ-5型積層壓電測(cè)試儀

4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測(cè)量?jī)x

5、ZJ-7型高溫壓電測(cè)試儀

★壓電極化裝置

1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片）

2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-8片）

3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）

★ 壓電制樣裝置

1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機(jī)（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30電動(dòng)型壓電陶瓷壓片機(jī)（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)及電滯回線測(cè)量系統(tǒng)

1、ZT-4C型綜合鐵電測(cè)量系統(tǒng)

2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數(shù)測(cè)試儀

3、JKGT-G300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)

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第三表征 熱電材料分析測(cè)量系統(tǒng)及塞貝克系數(shù)測(cè)試儀

1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)

2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統(tǒng)

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第四表征 介電材料測(cè)試系統(tǒng)

1、 常溫介電測(cè)量系統(tǒng)，常溫介電材料測(cè)試儀

2、 高溫介電測(cè)量系統(tǒng)，高溫介電材料測(cè)試裝置

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第四表征磁性材料測(cè)試系統(tǒng)

DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體冷熱臺(tái)測(cè)試裝置

關(guān)鍵詞：地質(zhì)流體，包裹體，冷熱臺(tái)，成巖，成藏

簡(jiǎn)介：

DLTB-600測(cè)量地質(zhì)流體包裹體的均一化溫度和冰點(diǎn)溫度是地質(zhì)流體包裹體研究中一項(xiàng)重要的內(nèi)容。巖礦鑒定，包裹體均一溫度、鹽度、壓力的精確測(cè)定，為成巖史、油氣運(yùn)移史和成藏條件研究提供實(shí)驗(yàn)支撐。電動(dòng)地質(zhì)流體包裹體冷熱臺(tái)測(cè)試裝置是專門為此目的而設(shè)計(jì)的。高導(dǎo)熱的銀質(zhì)加熱臺(tái)、高精度測(cè)溫鉑電阻和特殊的光孔設(shè)計(jì)，確保小于1um的包裹體也可以精確觀測(cè)。
DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體冷熱臺(tái)測(cè)試裝置這種高效的液氮泵，使用專有的泵和雙芯管，自動(dòng)控制速率。

一、產(chǎn)品功能：

1、  確定成巖事件和成藏作用溫度，時(shí)間和埋藏深度以及推斷油氣運(yùn)聚史，儲(chǔ)層熱層轉(zhuǎn)化和構(gòu)造運(yùn)動(dòng)史。

2、  銀臺(tái)的結(jié)構(gòu)可以減小液氮的涌流并使溫度變化引起的銀臺(tái)垂向移動(dòng)最小，從而消除重新聚焦的可能性。

3、  穩(wěn)定測(cè)量的另一個(gè)措施是樣品夾持器的設(shè)計(jì)采用非常低膨脹系數(shù)的不脹鋼，保證溫度的變化對(duì)樣品的水平位置沒有影響。這種穩(wěn)定性要求對(duì)共聚焦顯微鏡方法和高倍顯微鏡方法來說是基本的。

4、  液氮在溫度控制器的控制下由冷卻泵自動(dòng)注入銀臺(tái)。溫度反饋由A級(jí)pt100鉑電阻完成，響應(yīng)時(shí)間<0.01s。

二、冷熱臺(tái)/地質(zhì)臺(tái)/地質(zhì)冷熱臺(tái)參數(shù)：

1、溫度范圍：-190到600℃

2、  全程溫度精度和穩(wěn)定性：0.01℃/<0.01℃

3、  光孔直徑：1.3mm

4、  樣品X,Y軸向移動(dòng)：16mm

5、  樣品加熱面積：22 mm

6、  加熱/冷凍速率：0.01-150℃/min

7、  薄熱臺(tái)窗口：0.17mm

8、  氣密樣品腔室,可充入保護(hù)性氣體

9、  獨(dú)立溫度控制（計(jì)算機(jī)控制可選）

10、     最小物鏡/聚光鏡工作距離：4.5/12.5mm

11、     尺寸：137x92x22mm

12、     利用支架直接安裝在顯微鏡上

13、     側(cè)面送樣裝置