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TCR-1200型金屬材料高溫電阻測試儀
產(chǎn)品簡介：TCR-1200型金屬材料高溫電阻測試儀是衡量金屬電阻隨溫度變化的一個物理量，它表示當溫度改變1攝氏度時，電阻值的相對變化。TCR的單位通常為ppm/℃，其中ppm表示“parts per million”，即百萬分之一。這意味著，當溫度每變化1℃，電阻值的變化量是原始電阻值的百萬分之幾。TCR可以是正數(shù)、負數(shù)，或者在某些特定溫度下會有突
價格：面議
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JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介：JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)是將焦耳熱閃蒸技術與冷熱臺相結合的極寬溫域、超快速度材料合成和調(diào)控系統(tǒng)，可有效調(diào)控合成材料的微觀形貌和結構。我們提供常溫的焦耳熱閃蒸系統(tǒng)，同時提供變溫下的焦耳熱閃蒸系統(tǒng)，方便了科研和教學工作。
價格：面議
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TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀
產(chǎn)品簡介：TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測量設備。
價格：面議
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HTGSRM-1000 北京高溫氣敏材料測量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介：HTGSRM-1000高溫氣敏電阻測量系統(tǒng)主要用于測量電阻型氣體傳感器材料的氣敏特性，采用兩線或四線電阻測量原理設計開發(fā)。該系統(tǒng)采用外部控溫，使得氣敏元件測試擺脫了對器件的依賴，完全保持材料的形貌和結構。測量系統(tǒng)支持動態(tài)配氣系統(tǒng)及高真空抽氣系統(tǒng)，從而有利于表征材料在不同的濃度（ppb甚至ppt量級）及氣壓（特別是氧
價格：面議
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GWJDN-800 MINI型四通道高溫介電測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介：GWJDN-800型四通道高低溫介電測量系統(tǒng)應用于高溫環(huán)境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數(shù)的測試。是一代高溫介電測試系統(tǒng)，性能優(yōu)越，完全科研級別的測試裝置，是科研院所和高等學府的設備。
價格：面議
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HTIM-300型高低溫材料電阻率測試儀
產(chǎn)品簡介：HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺
價格：面議
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PTC/NTC-500 北京高溫熱敏電阻材料參數(shù)測量分析系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介：PTC/NTC-500高溫熱敏電阻材料參數(shù)測量分析系統(tǒng)關鍵詞:熱敏材料,電阻,伏安特，電壓
價格：面議
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BLDL-1000型高溫熔融玻璃電導率測試裝置
產(chǎn)品簡介：BLDL-1000型高溫熔融玻璃電導率測試裝置是一款專門應用于熔融玻璃電導率測量的，它是一種在高溫下測量玻璃熔體的電導率(電阻率）的裝置。熔體的電導率是用雙電極法測量的,是目前研究高溫熔融玻璃電導率的重要設備
價格：面議
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HTIM-300型高溫絕緣電阻測試儀
產(chǎn)品簡介：HTIM-300型高溫絕緣電阻測試儀是一款集絕緣電阻測試儀、皮安計、數(shù)字電位計、數(shù)字高壓源表四合一的專業(yè)儀器。本儀器可輸出0.5V-1000V之間任意電壓，滿足各種測試電壓要求，具有電壓回讀功能，七量程測試，使絕緣電阻測量范圍可達：10KΩ-10TΩ，最大顯示位數(shù)9999數(shù)。儀器擁有分選功能，分選訊
價格：面議
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GWST-1000型 高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）
產(chǎn)品簡介：GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導體的導電性能，該系統(tǒng)可以完全實現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。該系統(tǒng)廣泛應用于高等院校和科研院所，是科研的重要設備。
價格：面議
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SMA-01型形狀記憶合金特性測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介：SMA-01型形狀記憶合金特性測試系統(tǒng)是一款高精度，觸摸屏控制的測試儀，采用精密步進電機控制拉力，位移，高精度的位移、應力測量，可以實時顯示電阻、溫度、位移、力值并存儲。該設備目前已逐步應用于航空航天飛行器、空間結構平臺、機器人、核反應堆、建筑及橋梁結構、海洋結構等方面，以實現(xiàn)機構的主被動變形控制、振動控
價格：面議
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GWJDN-300型 三兼容多用途高溫介電溫譜儀
產(chǎn)品簡介：GWJDN-300高溫介電溫譜儀是一款專門用于評估電介質(zhì)材料高溫介電機制（材料極化、儲能、馳豫、相變、微結構變化、分子團重新取向等）的重要測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過測量介電常數(shù)、介電損耗和阻抗、相位隨溫度、頻率變化的關系，直接得出電介質(zhì)材料的溫度譜、頻率譜、阻抗譜、Cole-Cole圖等重要的物理性能參數(shù)。高溫介電溫譜儀是
價格：面議
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GWJDN-600A 一種關鍵壓電材料高溫介電溫譜儀新品上市
產(chǎn)品簡介：GWJDN-600A壓電材料高溫介電溫譜儀本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數(shù)，等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及
價格：面議
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HTRS-1000型 高溫半導體材料電阻率測試儀
產(chǎn)品簡介：HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針
價格：面議
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BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測試儀
產(chǎn)品簡介：BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測試儀熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。??近年來直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發(fā)動機和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元。?? BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測試儀為了應對一系列挑
價格：面議
