科電檢測(cè)儀器公司成立于2002年，屬于國(guó)家認(rèn)證批準(zhǔn)的高新技術(shù)企業(yè)，是中國(guó)的檢測(cè)儀器生產(chǎn)制造商。公司集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)為一體，專業(yè)提供的檢測(cè)儀器與全面的技術(shù)解決方案?？偛孔溆谏綎|省濟(jì)寧市，公司廠區(qū)占地面積18800多平方米。公司技術(shù)力量雄厚，擁有完善的生產(chǎn)工藝、精湛的技術(shù)開發(fā)及生產(chǎn)實(shí)力。

科電公司多年來(lái)始終堅(jiān)持“用心制造、成就精品”的產(chǎn)品開發(fā)目標(biāo)，秉承“科學(xué)管理、精心制造、優(yōu)質(zhì)服務(wù)、追求卓越”的質(zhì)量方針，全面建立質(zhì)量管理體系，經(jīng)過(guò)10年的不懈努力，目前已發(fā)展壯大成為資產(chǎn)過(guò)億、員工上百，并擁有3家控股公司及多家辦事處的企業(yè)，產(chǎn)品涉及超聲檢測(cè)、涂裝檢測(cè)、埋地管線檢測(cè)、紅外檢測(cè)、氣體檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域的高科技產(chǎn)業(yè)型經(jīng)濟(jì)實(shí)體。公司目前生產(chǎn)產(chǎn)品有：HCH系列超聲波測(cè)厚儀、MC系列涂鍍層測(cè)厚儀、MCW渦流測(cè)厚儀、FJ系列埋地管線檢測(cè)儀、DJ系列電火花檢漏儀、TM系列紅外線測(cè)溫儀、YD系列里氏硬度計(jì)等。

“科技成就未來(lái)、用心制造精品”，科電公司將與時(shí)俱進(jìn)，為民族工業(yè)品牌走向世界而不懈奮斗！

MC-2010A型涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：MC-2010A型涂（鍍）層測(cè)厚儀是科電公司高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用單片機(jī)技術(shù)，測(cè)量精度高、數(shù)字顯示、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、內(nèi)置探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕; 強(qiáng)大的抗干擾能力，求值更穩(wěn)定；且具有低電壓指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，其性能已達(dá)到當(dāng)代國(guó)際同類儀器的先進(jìn)水平。

MC-2010A型涂鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍：本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2010A型涂鍍層測(cè)厚儀工作原理：MC-2010A型涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2010A型涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

1、測(cè)量范圍：0~1200um

2、測(cè)量誤差：<3%±1um

3、zui小示值：1um

4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

 （1）測(cè)量：內(nèi)置探頭全量程測(cè)厚

 (2).統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、zui大值、zui小值

   (3).校準(zhǔn)：可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (4).電量：具有欠壓顯示功能

   (5).蜂鳴提示：操作過(guò)程中有蜂鳴提示

   (6).關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方式

6、電源： 兩節(jié)1.5v電池

7、功耗： zui大功耗90mw

8、外形尺寸：112mm*44mm*25mm

9、重量：    100g(含電池)

10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度： 0.2mm

12、基體zui小平面： 7mm

13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：   右上角顯示＂ ＂

*臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。