MiniTest600系列提供多種校準方法來滿足各種應(yīng)用場合和工業(yè)標準。如果創(chuàng)建了一個批組，您就可以為這個批組選擇一種合適的校準方法。在測量模式下，你可以在創(chuàng)建批組后立即進行校準，也可以遲些時候進行校準。按下功能鍵CAL，即可在測量模式下調(diào)出校準功能。

校準須在當(dāng)前激活的批組內(nèi)進行，并直接和批組相關(guān)。

為了確保做到合適的校準，我們應(yīng)注意以下幾個問題：

 對精que的測量而言,正確的校準是非常重要的。用于校準的樣品和實際被測工件應(yīng)該具有一樣的形狀。原則上，用于校準的樣品和實際被測工件越一致，校準也就越精que，測量讀值也越精que。 

 確保用于校準的樣品和實際被測工件具有相同的特性，例如：

——相同的曲率半徑

——相同的底材(例如都具有相同的導(dǎo)磁率，電導(dǎo)率;理想的狀態(tài)是，它們都是同一種材料）

——相同的底材厚度

——測量區(qū)域尺寸一致

●開始校準前，確保校準區(qū)域，探頭和零板都是清潔的。任何表面的雜質(zhì)都可能影響到準的準確性和穩(wěn)定性。

●確保校準區(qū)域和實際被測區(qū)域是一樣的，尤其在測量小工件或工件的邊角時需如此。

●校準時需遠離強磁場。

●校準時選用的標準箔片厚度應(yīng)和實際被測工件的涂鍍層厚度盡量一致

●如果使用標準箔片,確保它們是被平放在底材上。應(yīng)盡量避免標準箔片和底材間留有空隙。

請注意：

如果在校準過程中由于電池沒電而導(dǎo)致關(guān)機，那么，在換上新電池后，將會繼續(xù)先請前的校準過程。

一、校準方式

根據(jù)您的任務(wù)設(shè)置，您可能會用到不同的校準方法。測量精度取決于您選擇的校準方法。

1一點校準(僅校準零點)

“Z”顯示在狀態(tài)欄

 校準點：零點(直接在基材上進行)

校準僅在無涂層的樣品上進行。僅在基材上進行一點校準，即校零。

零點?；催m用于快速校準,只需中等精度的情況。

2兩點校準

“Z 1”顯示在狀態(tài)欄

校準點：零點(直接在基材上進行)和一片

標準箔片

校準在無涂層的樣品上進行。先是零點校準，然后把一片標準箔片放在樣品上進行校準。

和零點校準相比,兩點校準意味著高的精度。如果標準箔片的厚度與實際被測的涂層厚度相近，精度將會高。

二、如何校準

在測量模式下，按功能鍵CAL進入校準模式。

1校準FN探頭

如果在一個批組中已經(jīng)設(shè)定了測量方法為“AUTO-F/N”，您就可以針對鐵基和非鐵基進行校準。校準程序?qū)粓?zhí)行兩次。您需要選擇先要校準的底材，用上下鍵選到該底材上，按OK鍵確認。校準完成后，您需要選擇下一個要校準的底材，用上下鍵選到該底材上，按OK鍵確認。在此之后，您將又被要求選擇底材。如果已經(jīng)完成了對兩種底材的校準，您就可以按ESC鍵退出校準。此時，儀器將重新回到測量模式。

2一點校準（僅校準零點）

按壓CAL鍵開始校準，并把探頭放在無涂層的樣品上。當(dāng)聽到“滴”聲后抬起探頭。

在同樣的測量點上重復(fù)此操作3-10次，平均值將會顯示在屏幕上。精度將會隨著測量次數(shù)的增加而增加。按OK鍵確認零點校準。再按一次OK鍵確認完成校準程序。

此時儀器將要求您再一片標準箔片上校準。按OK鍵跳過此步驟。

3兩點校準

先按提示完成零點校準。

之后，按照提示把一片標準箔片放在樣品上，然后用探頭進行測量。當(dāng)聽到“滴”聲后抬起探頭，在同一點重復(fù)測量3-10次，平均值將會顯示在屏幕上。

如果此時測量得到的厚度值和標準箔片的厚度值不一致，使用上下鍵將數(shù)值調(diào)成與標準箔片的厚度值一致。

按OK鍵存儲校準數(shù)值，再按一次OK鍵完成校準。

目錄列表將顯示哪些點您已經(jīng)校準過了。按OK鍵，您將回到測量模式。在自動F/N校準中您將回到基材選擇模式。