提交詢價信息 |
發(fā)布緊急求購 |
價格:電議
所在地:江蘇 無錫市
型號:SE-RD-STD系列
更新時間:2024-08-13
瀏覽次數(shù):625
公司地址:無錫惠山區(qū)清研路3號華清創(chuàng)智園8號樓A棟創(chuàng)業(yè)大廈201室'
小王(女士)
全光譜橢偏儀——
● 桌上型膜厚量測設(shè)備
● 安裝移動迅速便捷
● 適用于所有非金屬膜質(zhì)
● 多樣化的應(yīng)用選擇
● 工業(yè)標準數(shù)據(jù)端口
全光譜橢偏儀——
規(guī)格 |
技術(shù)指標 |
襯底類型 |
透明或半透明襯底 |
光源 |
氙燈 |
光源壽命 |
>8760H |
光譜范圍 |
300-1000nm |
入射角 |
70度(40度-90度 每5度可調(diào)) |
光斑直徑 |
100 |
測量時間(不對焦) |
<2S(單層模型),<約6s(多層模型) |
膜厚測量范圍(單層膜) |
1nm-15μm |
對焦 |
自動訊號對焦 |
膜厚測量精度 |
<0.5nm(基于標片) |
折射率測量精度 |
<0.005(基于標片) |
厚度重復(fù)性精度: |
<0.5A(1 sigma 標準差,10times)(基于標準片) |
折射率重復(fù)性精度: |
<0.0005(1 sigma標準差,10times)(基于標準片) |
可測試膜層數(shù)量 |
≥2層 |
標片數(shù)量 |
2片 |