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價(jià)格:電議
所在地:北京
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更新時(shí)間:2021-06-30
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公司地址:北京市海淀區(qū)上地信息路26號(hào)
王經(jīng)理(先生)
JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng),通過(guò)與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng)使用,可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。EDS通過(guò)檢測(cè)被電子束激發(fā)出的樣品的特征X射線,確定樣品含有的元素及成分比,可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)分析、線分析及面分析。
JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列
可以在SEM圖像上分析位置,開(kāi)始EDS分析。
VID
將采集的X射線譜圖和Visual PeakID(VID)合成的譜圖進(jìn)行比較,定性結(jié)果可以通過(guò)視覺(jué)、數(shù)值判斷。
Play Back
Play Back (回放) 功能
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖,不僅保存了每一幀中各個(gè)像素點(diǎn)的譜圖,還對(duì)每一幀中電子束形成的圖像進(jìn)行了存儲(chǔ)。利用Play back功能,可以進(jìn)行多角度的分析如觀測(cè)譜圖等隨時(shí)間的變化等。測(cè)試后數(shù)據(jù)能夠回放,可以觀察到樣品按時(shí)間順序發(fā)生的變化,這是至今為止無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。此外,利用Play Back功能還可以截取任意的畫面。
Smile Station? 2
Smile Station?2功能通過(guò)在多個(gè)視野上自動(dòng)進(jìn)行分析,生成SEM和元素面分布圖的無(wú)縫蒙太奇圖像,也可以在取得的視野上進(jìn)行連續(xù)的元素面分布和點(diǎn)分析等。(專利號(hào)4175597)
Dry SD 檢測(cè)器
Dry SD 檢測(cè)器(SDD檢測(cè)器)與傳統(tǒng)的EDS檢測(cè)器不同,不需要液氮制冷。使用快速簡(jiǎn)單,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了高分辨率和高計(jì)數(shù)率處理。