提交詢價信息 |
發(fā)布緊急求購 |
價格:電議
所在地:上海
型號:XRF-2000L,XRF-2000H,XRF-2000PCB
更新時間:2024-03-19
瀏覽次數(shù):3271
公司地址:臨夏路256號上海電子商城5號樓904室
丁成峰(先生) 經(jīng)理
X熒光射線膜厚與元素(RoHS)分析儀 XRF-2000 (R)系列
H-Type
L-Type
PCB-Type
介紹:
X熒光射線膜厚分析儀是利用XRF原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用于材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。XRF-2000系列分為以下三種:
1. H-Type: 密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。
2. L-Type: 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。
3. PCB-Type: 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。
4. R-Type: 結(jié)合膜厚量測,元素成份及含量分析功能(RoHS分析儀)。
應(yīng)用:
測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度,其可偵測元素的范圍:Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)選配。
行業(yè):
五金類、螺絲類、PCB類、 連接器端子類行業(yè)、電鍍類、金飾相關(guān)行業(yè)等。
特色:
非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。
可測量高達六層的鍍層(五層厚度+底材)并可同時分析多種元素。
兼容Microsoft 微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟件,操作方便,直接可用Office軟件編輯報告。
標準配備 : 溶液分析軟件,可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式: 全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差。
雷射 自動對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。
元素成份與含量分析1ppm偵測極限,兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物質(zhì)檢測分析。(選配)
標準ROI軟件搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告。
光學20X影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇:mils、uin、mm、um。
優(yōu)于美制儀器的設(shè)計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的優(yōu)勢。
儀器正常使用保固期一年,強大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。
測試方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。