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價格:電議
所在地:北京
型號:BKTEM-D1
手機:18210063398
電話:010-60414386
更新時間:2024-09-18
瀏覽次數(shù):1782
公司地址:北京順義北小營
我們?yōu)槟闾峁┎牧媳碚鳒y量的一系列產(chǎn)品:
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一表征:壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀
2、ZJ-4型d33測量儀
3、ZJ-5型積層壓電測試儀
4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀
5、ZJ-7型高溫壓電測試儀
★壓電極化裝置
1、PZT-JH10/4壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片)
2、PZT-JH10/8壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片)
3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置(20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片)
4、PZT-FJH20 /3高壓真空,空氣極化裝置(20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣)
★ 壓電制樣裝置
1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機(壓力范圍: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T2
2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機(壓力范圍: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T)
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第二表征 鐵電材料測量系統(tǒng)及電滯回線測量系統(tǒng)
1、ZT-4C型綜合鐵電測量系統(tǒng)
2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數(shù)測試儀
3、JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)
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第三表征 熱電材料分析測量系統(tǒng)及塞貝克系數(shù)測試儀
1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)
2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統(tǒng)
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第四表征 介電材料測試系統(tǒng)
1、 常溫介電測量系統(tǒng),常溫介電材料測試儀
2、 高溫介電測量系統(tǒng),高溫介電材料測試裝置
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第四表征磁性材料測試系統(tǒng)
BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)
關(guān)鍵詞:熱電材料,Seebeck系數(shù),電導率, 電阻率,V-1裝置
產(chǎn)品介紹:
BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是我國熱電材料的領軍設備,是材料計
劃中前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設計出來的熱電材料
測試儀,其測試性能遠超越外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材
料同時也可以用于薄材料的測試,是目前高等院校和材料研究所的重要設
備。
對于熱電材料的研究,熱電性能測試是不可或缺的試驗數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導率。主要原理和特點如下:
該裝置由,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
一、適用范圍:
1、地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測均可以測試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
5、擁有自身分析軟件,分析,過程自動控制,界面友好。
6、高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領域-每年都會誕生新的應用領域.
二、技術(shù)特點:
·解決高溫下溫控精度不準的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
·試樣采用獨特的焊偶機構(gòu),保證接觸電阻zui小以及測量結(jié)果的高重現(xiàn)性。
· 每次可測試1-3個樣品.
· 采用數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。
三:主要技術(shù):
測量溫度:室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選
同時測試樣品數(shù)量:1個,2個,3個 可選
控溫精度:0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)
測量原理:塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法
測量范圍:塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率:塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm
測量精度:塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%
樣品尺寸:塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:≥50 nm
熱電偶導距: ≥6 mm
電 流: 0 to 160 Ma
氣 氛:0 to 160 mA
加熱電相數(shù)/電壓:單相,220V,
夾具接觸熱阻:≤0.05 m2K/W