產(chǎn)品簡介
快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的相位差、雙折射和內(nèi)部應力應變分布.雙折射儀,應力雙折射儀,小鏡片雙折射應力測試儀
公司簡介
歐屹科技,是以激光、光電儀器、電子封裝設備為核心業(yè)務的專業(yè)代理經(jīng)銷商和服務商,歐屹科技以多年的行業(yè)經(jīng)驗,
為客戶引進國內(nèi)外先進的激光器、光電器件、光電儀器、光電系統(tǒng)、電子封裝設備等高精尖儀器設備
其中高功率半導體激光器,微光學透鏡,劃片機,
應力雙折射測試儀尤其受到客戶的贊許。
另外,歐屹科技以專業(yè)的技術支持和售后服務;豐富國際貿(mào)易經(jīng)驗為廣大用戶提供廣泛的支持,
我們正盡最大努力把歐屹科技建設成為值得您信賴的公司
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產(chǎn)品說明
日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心,成立的合資公司,尤其是其光子晶體制造技術,并由此開發(fā)出的測量儀器。
主要產(chǎn)品分四部分:
- n 光子晶體光學元件;
- 雙折射和相位差評價系統(tǒng);
- 膜厚測試儀;
- 偏振成像相機。
『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應力』測量裝置 WPA/PA系列
- 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的
- 相位差、雙折射和內(nèi)部應力應變分布
PA/WPA系統(tǒng)特點:
- 操作簡單/快速測定:獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
- 2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能:二維數(shù)據(jù)的強大分析功能,能夠直觀解釋被測樣品的特性。
- 大相位差測試能力(WPA系列):通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進行計算,WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。
偏光圖像傳感器的結構和測試原理
小型鏡片用雙折射分布測量系統(tǒng)WPA-100-S
- 適合用來檢測智慧型手機鏡片的雙折射/相位差
- 以雙折射/相位差結果為基準自動判定合格與否
鏡片的雙折射現(xiàn)象,會造成鏡片的成像性能(MTF)下降。這是因為決定光線折射角度的折射率因入射偏光而呈現(xiàn)不穩(wěn)定的狀態(tài)。智慧型手機所使用的鏡片需要高度解析度,因此減少雙折射現(xiàn)象,及掌控雙折射的數(shù)值,是製造智慧型手機鏡片時,不可缺少的動作。WPA-100-S正符合這樣的需求,並能以高速完成各項測量。
產(chǎn)品特點:
大的測試范圍
圖表功能
CSV格式輸出
快軸/慢軸可選擇
自動的合格與否判定
l 可升級至滿足小于φ10mm的透鏡的檢測。
l 自動選擇圖形區(qū)域和自動判定合格與否的功能。
主要參數(shù)表
本頁產(chǎn)品地址:http://jssdj.com/sell/show-6960239.html

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