ContourGT表面計(jì)量系列產(chǎn)品
用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學(xué)輪廓儀

• 業(yè)界zui高垂直分辨率

• 高的可靠性和的測(cè)量重復(fù)性

• zui高的表面測(cè)量和分析速度

• 強(qiáng)的使用性，操作簡(jiǎn)便，分析功能強(qiáng)大

30年技術(shù)革新，實(shí)現(xiàn)非接觸式表面測(cè)量技術(shù)高峰

ContourGT系列結(jié)合的64位多核操作和分析處理軟件，白光干涉儀（WLI）硬件和前所未有的操作簡(jiǎn)易性，推出歷年來(lái)來(lái)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學(xué)表面輪廓儀擁有視野內(nèi)埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界zui高的測(cè)量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，廣泛使用和直觀的3D表面計(jì)量平臺(tái)。

業(yè)界zui高的垂直分辨率，強(qiáng)大的測(cè)量性能

• 0.5倍至200倍的放大倍率，在寬的測(cè)量范圍內(nèi)，對(duì)樣品表面形狀和紋理進(jìn)行表征。

• 任何倍率下亞埃級(jí)至毫米級(jí)垂直測(cè)量量程提供了無(wú)以倫比的測(cè)量靈活性。

• 高分辨率攝像頭可選配件，提高了橫向分辨率和GR&R測(cè)量的重復(fù)性。

多核處理器下運(yùn)行的Vision64? 軟件，大大提高三維表面測(cè)量和分析速度

• 新的軟件設(shè)計(jì)使數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍。

• 多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍。

• 無(wú)以倫比的無(wú)縫拼接能力，可以把成千上萬(wàn)個(gè)數(shù)據(jù)拼接成一張連續(xù)的圖像

測(cè)量硬件的獨(dú)特設(shè)計(jì)增強(qiáng)生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復(fù)性

• 高亮度的雙LED照明提高測(cè)量質(zhì)量。

• 化的硬件設(shè)計(jì)提高了儀器對(duì)震動(dòng)的容忍度和GR&R測(cè)量的能力。

• 的自動(dòng)校準(zhǔn)能力確保了儀器與儀器之間的相關(guān)性，測(cè)量準(zhǔn)確度和重復(fù)性。

高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界強(qiáng)的操作簡(jiǎn)便和分析功能強(qiáng)大

• 優(yōu)化的用戶界面大大簡(jiǎn)化測(cè)量和數(shù)據(jù)分析過程，從而提高儀器和操作者效率

• 獨(dú)特的可視化操作工具為用戶提供易于學(xué)習(xí)和使用的數(shù)據(jù)分析選項(xiàng)

• 用戶可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面

  三十年技術(shù)創(chuàng)新，迎來(lái)第十代全新產(chǎn)品
  我們的干涉儀是上一個(gè)包含了的垂直掃描干涉技術(shù)（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，的自動(dòng)校準(zhǔn)和雙LED照明等革新技術(shù)。
  ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實(shí)的設(shè)計(jì)功能，又在硬件上進(jìn)行了大量的改進(jìn)，從而給用戶提供了目前上的、重復(fù)性的光學(xué)輪廓儀性能。 Bruker的光學(xué)輪廓儀具有已被證實(shí)的，將近三十年的優(yōu)越性能運(yùn)行跟蹤記錄，從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型工廠的上萬(wàn)臺(tái)安裝記錄。

  ContourGT-X光學(xué)輪廓儀配備有一體式的氣動(dòng)平臺(tái)和雙層金屬鑄件，此兩種設(shè)計(jì)都是為了隔離震動(dòng)以避免干擾測(cè)量效果，從而獲得快速、的、可通過GRR測(cè)試的測(cè)量結(jié)果。

  OMM結(jié)合了Bruker的雙LED照明光源技術(shù)，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供的照明強(qiáng)度和均勻性。OMM還能在整個(gè)10mm測(cè)量量程內(nèi)提供無(wú)以倫比的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的多放大倍率檢測(cè)器可包含zui大三個(gè)視場(chǎng)目鏡，以zui大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。

  ContourGT系列可選擇型號(hào)中，具有包含Bruker的內(nèi)置一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)自校準(zhǔn)功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能zui大化。此模塊包含一個(gè)參考信號(hào)，在儀器啟動(dòng)時(shí)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn)，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測(cè)量，以保證的度和的重復(fù)性。

  Bruker的傾斜調(diào)整支架設(shè)計(jì)可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測(cè)量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測(cè)量的視野中，確保了操作的一致性和簡(jiǎn)易性。
  *這些選項(xiàng)僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號(hào)上具有。

  在ContourGT-X型號(hào)中具有全自動(dòng)的8英寸或12英寸樣品臺(tái)。兩種樣品臺(tái)均配備有0.5um重復(fù)性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。

  選配的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)塔臺(tái)可安裝多4個(gè)干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺(tái)設(shè)計(jì)確保了當(dāng)您切換物鏡時(shí)，您的測(cè)試點(diǎn)始終處于聚焦和中心位置。

  在防震臺(tái)的后面配備有一個(gè)LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。

  • 輔助操作燈泡*

  • 塔臺(tái)

  • 自動(dòng)樣品臺(tái)

  • 傾斜調(diào)整支架*

  • 自校準(zhǔn)功能*

  • 光學(xué)計(jì)量模塊(OMM)

  • 的震動(dòng)隔離性能*

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