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瑞典XCounter 雙能探測器

大連林帝進出口有限公司
會員指數(shù): 企業(yè)認證:

價格:電議

所在地:遼寧 大連市

型號:

更新時間:2024-09-23

瀏覽次數(shù):1549

公司地址:大連市中山區(qū)港灣街20號名仕財富A1211號

王俊巖(女士) 經(jīng)理 

產(chǎn)品簡介

瑞典XCounter 雙能探測器光子計數(shù) 直接轉(zhuǎn)換 能量分辨?XCounter 采用CdTe作為直接轉(zhuǎn)換X射線探測器的轉(zhuǎn)換材料?直接轉(zhuǎn)換X射線探測器具有更好的空間分辨率?可獲得更小細節(jié)的清晰圖像?動態(tài)范圍大,這對于獲取整幅圖像

公司簡介


林帝進出口有限公司成立于一九九三年,并于一九九八年在德國慕尼黑注冊了分公司。公司經(jīng)營各類產(chǎn)品的進出口業(yè)務(wù),經(jīng)營品種多達六大類數(shù)百余種產(chǎn)品。從金屬及礦產(chǎn)、建筑材料、機電設(shè)備、工藝品、到紡織面料服飾、農(nóng)副產(chǎn)品和水產(chǎn)品等。同時公司是德國NTB公司的X射線檢測成像系統(tǒng)、英國GULMAY X射線高壓發(fā)生器和控制器、美國Faxitron櫥柜式X線系統(tǒng)、比利時印刷公司的印刷設(shè)備、英國Relco公司感應(yīng)封口機的中國代理商。公司本著逐步開拓新領(lǐng)域和新項目,力求實現(xiàn)一業(yè)為主,多業(yè)發(fā)展的態(tài)勢。

林帝進出口有限公司成立十一年來,堅持"求真務(wù)實"的經(jīng)營理念,加強企業(yè)管理,采取“以誠樹信,靠質(zhì)上量”的發(fā)展戰(zhàn)略,穩(wěn)步贏得了國內(nèi)外眾多客戶的信賴,業(yè)務(wù)量和效益連年持續(xù)翻倍增長,被海關(guān)、外匯管理局等部門評為出口創(chuàng)匯A級企業(yè),同時被多家銀行評為AA級企業(yè)。

展開

產(chǎn)品說明

瑞典XCounter 雙能探測器
光子計數(shù) 直接轉(zhuǎn)換 能量分辨
XCounter 采用CdTe作為直接轉(zhuǎn)換X射線探測器的轉(zhuǎn)換材料
•直接轉(zhuǎn)換X射線探測器具有更好的空間分辨率
•可獲得更小細節(jié)的清晰圖像
•動態(tài)范圍大,這對于獲取整幅圖像非常重要
•光子計數(shù),具有更高的靈敏度,可在非常低的劑量下工作
•采用雙能曝光,具有區(qū)分材料的能力
雙能
XCounter具有能量分辨能力,可以分辨出不同的材料
一次X射線獲取,可記錄兩種不同能量的X射線吸收劑量
利用不同組織和骨骼的吸收劑量的不同的特點,可以從圖像
中把它們區(qū)分出來
使得XCounter在醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域獨具特色
獨特的賣點
獨特的傳感器
FLITE
? 0.75mm / 1mm CdTe zui大 225kV
? 成像面積 150mm x 25.6mm, 12.8mm, 6.4mm
? 拼接的探測器
? 100 um 像素
? TDS快速掃描
? 模塊設(shè)計,電子器件可再生利用,重組變成一個新的產(chǎn)品,
同樣的板子可適用于不同寬度
? 板子和板子之間的通訊允許鏈接
? 可對接的,以形成一個區(qū)域探測器
? 單一的開發(fā)庫
基礎(chǔ)材料
一塊PCB板,適用于
所有的探測器
傳感器陣列和PCB
間靈活連接,可以有
不同的形式(未展示)
串聯(lián)拼接探測器
串聯(lián)拼接,形成更長的線陣探測器
長至1m
產(chǎn)品描述
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器,用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng),基于強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成,XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像,也可以采用時間延遲總和(TDS)模式。
 
引進反符合技術(shù)的雙能采集功能,是XC-FLITE FX系列產(chǎn)品的之處,在雙能采集過程中,收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個的閾值,并分別讀出,兩個能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料,為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的引進,可以通過保證將每一個光子信號分布在正確的像素點上,以獲取更高的能量分辨率。  
 
集成
XC-FLITE FX系列,通過GigE接口將XC-FLITE FX系列連接到計算機上,自帶靈活的軟件開發(fā)包,可控制所有XC-FLITE FX的功能;可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺
 
應(yīng)用
*小范圍輻照   
*小動物成像
*實驗室樣品和標(biāo)本成像    
*工業(yè)檢測(NDT)
 
特點&
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器,高品質(zhì)成像
*雙能采集,具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù),的能量分辨率
*可基于幀率成像,也可以選擇時間延遲總和(TDS)模式
*兼容Windows操作系統(tǒng),從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發(fā)軟件
 
 
基本參數(shù)
物理參數(shù)
   
尺寸 (L×W×H)
 
XC-FLITE FX1:23.1×13.1×6.0 cm
XC-FLITE FX2:38.6×13.1×6.5 cm
XC-FLITE FX3:54.0×13.1×6.5 cm
溫度控制
 
內(nèi)部的珀爾帖效應(yīng)溫度控制
環(huán)境溫度
 
+10 - +40
儲藏溫度
 
-10-+60 @ 10% to 95% 濕度
射線窗
 
碳纖維, 厚500μm
射線屏蔽
 
根據(jù)應(yīng)用
傳感器
   
傳感器數(shù)量
 
FX1:1   FX2:2    FX3:3
傳感器類型
 
雙能光子計數(shù) CdTe-CMOS
傳感器厚度
 
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面積
 
FX1:154.7×12.8mm (1536×128像素)
FX2:309.4×12.8mm (3072×128像素)
FX3:464.1×12.8mm(4608×128像素)
像素
 
100μm
像素填充率
 
     
性能
   
幀率
 
zui高1000 fps(也可選擇時間延遲求和模式)
動態(tài)范圍
 
12 bits
圖像面元
 
1×1,2×2,4×4
成像時間
 
100μs-5s
DQE(0)
Detective Quantum Efficiency
 
85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function
 
>80% @ 2lp/mm  
>45% @ 5lp/mm
管KV范圍
 
15-250kVp
內(nèi)部測試圖樣
 
Pseudo-random debug pattern
外部觸發(fā)輸出
 
3.3V TTL
輸入
 
5V
滯后
 
0%
拖影
 
<0.1%  X射線開啟后1分鐘,(12μGy)
分辨率和DQE曲線(反符合開CC on和閉CC off  
產(chǎn)品描述:PDT25-DE
緊湊型、直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器,用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng),基于強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成,PDT25-DE是一個小視場探測器,適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
PDT25-DE可以基于幀率成像,也可以采用時間延遲總和(TDS)模式。
 
引進反符合技術(shù)的雙能采集功能,是PDT25-DE之處,在雙能采集過程中,探測到的光子能量分別設(shè)置為兩個的閾值,并分別讀出,兩個能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料,為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。采用反符合技術(shù),可以確保將每一個光子信號分布在正確的像素點上,以獲取更高的能量分辨率。
 
集成
通過高速率USB接口將PDT25-DE連接到計算機上,自帶靈活的軟件開發(fā)包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺上。
 
應(yīng)用
*小范圍輻照  
*小動物成像 
*實驗室樣品和標(biāo)本成像 
*反向散射成像  
*工業(yè)檢測(NDT)
 
特點和
*CdTe-CMOS傳感器,高品質(zhì)成像
*雙能采集,具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù),的能量分辨率
*可基于幀率成像,也可以選擇時間延遲總和(TDS)模式
*兼容Windows操作系統(tǒng),從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發(fā)軟件
 
技術(shù)參數(shù)
物理參數(shù)
   
尺寸 (L×W×H)
 
94×54×20mm
重量
 
150g(235g 帶鎢防護)
溫度控制
 
內(nèi)部的珀爾帖效應(yīng)溫度控制
環(huán)境溫度
 
+15 - +45
儲藏溫度
 
-10 - +50 @ 10% -95% 濕度
zui大消耗功率
 
10W
射線窗
 
碳纖維, 厚250μm
射線屏蔽
 
根據(jù)應(yīng)用
     
傳感器
   
傳感器類型
 
雙能光子計數(shù) CdTe-CMOS
傳感器厚度
 
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面積
 
25.6×25.6 mm2
像素
 
100μm
像素填充率
 
     
性能
   
幀率
 
zui高35fps
動態(tài)范圍
 
12 bits
成像時間
 
100μs-5s (通過軟件,可以設(shè)置更長時間)
DQE(0)
Detective Quantum Efficiency
 
85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function
 
>80% @ 2lp/mm
>45% @ 5lp/mm
管KV范圍
 
15-140 kVp
內(nèi)部測試圖樣
 
Pseudo-random debug pattern
外部觸發(fā)輸出
 
3-3 V TTL
輸入
 
3-15V
滯后
 
0%
拖影
 
<0.1%  X射線開啟后1分鐘(12μGy)
 
 
分辨率和DQE曲線 (反符合開CC on和閉CC off  

 
 
 
 
 
 
 
產(chǎn)品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器,用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng),基于強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成,XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像,也可以采用時間延遲總和(TDS)模式,掃描速度zui高90mm/s。
 
引進反符合技術(shù)的雙能采集功能,是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的之處,在雙能采集過程中,收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個的閾值,并分別讀出,兩個能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料,為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的引進,可以通過保證將每一個光子信號分布在正確的像素點上,以獲取更高的能量分辨率。  
 
所有精心設(shè)計的運動部件需要在XC-FLITE X系列的內(nèi)部自動控制,整個掃描過程是透明可見的。
 
集成
XC-FLITE X系列,通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計算機上,自帶靈活的軟件開發(fā)包,可控制所有XC-FLITE X的功能;可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺
 
應(yīng)用
*小范圍輻照   
*小動物成像
*實驗室樣品和標(biāo)本成像    
*工業(yè)檢測(NDT)
 
特點&
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器,高品質(zhì)成像
*自掃描設(shè)計,透明可見
*雙能采集,具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù),的能量分辨率
*可基于幀率成像,也可以選擇時間延遲總和(TDS)模式
*掃描速度zui高90mm/s
*兼容Windows操作系統(tǒng),從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發(fā)軟件
 
技術(shù)參數(shù)單
基本參數(shù)
物理參數(shù)
尺寸 (L×W×H)
 
XC-FLITE X1:32.9×22.0×5.5cm
XC- FLITE X2:54.2×40.2×8.7cm
XC-FLITE X3:63.0×57.1×8.5cm
溫度控制
 
內(nèi)部的珀爾帖效應(yīng)溫度控制
環(huán)境溫度
 
+10 - +40
儲藏溫度
 
-10-+60 @ 10% - 95% 濕度
射線窗
 
碳纖維, 厚500μm
射線屏蔽
 
根據(jù)應(yīng)用
傳感器
 
傳感器數(shù)量
 
X1:1   X2:2    X3:3
傳感器類型
 
雙能光子計數(shù) CdTe-CMOS
傳感器厚度
 
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面積
 
X1:154.7×12.8mm(1536×128像素)
X2:309.4×12.8mm(3072×128像素)
X3:464.1×12.8mm(4608×128像素)
像素
 
100μm
像素填充率
 
性能
 
zui大掃描速度
 
X1:90 mm/s   X2 & X3:255 mm/s
幀率
 
zui高1000 fps (也可選擇時間延遲總和模式)
動態(tài)范圍
 
12 bits
圖像面元
 
1×1,2×2, 4×4
成像時間
 
100μs-5s
DQE(0)
Detective Quantum Efficiency
 
85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function
 
>80% @ 2lp/mm  
>45% @ 5lp/mm
管KV范圍
 
15-250kVp
內(nèi)部測試圖樣
 
Pseudo-random debug pattern
外部觸發(fā)輸出
 
3.3V TTL
輸入
 
5V
滯后
 
0%
拖影
 
<0.1%  X射線開啟后1分鐘,(12μGy)
 
 
分辨率和DQE曲線 (反符合開CC on和閉CC off  

 

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