天瑞儀器公司2011年推出的高性能、臺式X熒光合金分析儀EDX4500H,融匯的合金分析技術(shù)，配備合金測試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。

EDX4500H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

性能特點:

超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到水平
針對合金的測試而開發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增應(yīng)得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

標(biāo)準(zhǔn)配置：

合金測試超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測器
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

技術(shù)指標(biāo)：

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.05%（含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

應(yīng)用領(lǐng)域：

檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品