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橢圓偏振測厚儀 偏振測厚儀 測厚儀 型號:TP-TPY-1在近代科學的許多領(lǐng)域中對薄膜的研究和應用日益。因此,加...
橢圓偏振測厚儀 偏振測厚儀 測厚儀 型號:TP-TPY-1
在近代科學的許多領(lǐng)域中對薄膜的研究和應用日益。因此,加和迅速的測定給定薄膜的光學參數(shù)已變得加迫切和重要。在實際工作中可以利用傳統(tǒng)的方法測定光學參數(shù),如:布儒斯特角法測介質(zhì)膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度高、度高、非破壞性測量等優(yōu)點,因而,橢圓偏振法測量已在光學、半導體、生物、醫(yī)學等諸多領(lǐng)域得到應用。
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