半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料監(jiān)測的需儀器。...

數(shù)字式四探針測試儀/四探針測試儀/數(shù)字式四探針檢測儀 型號：HHY8-SZT-2000

HHY8-SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀

半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料監(jiān)測的需儀器。

儀器為臺式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構(gòu)、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測試架設(shè)有手動和電動兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成，測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。

儀器具有測量度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究、高等院校，對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試及檢測。

儀器主要指標(biāo)：

1． 范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

方塊電阻10^-3—10³Ω /□

電阻10^-6—10⁵Ω

2． 可測半導(dǎo)體尺寸：直徑Φ15—150mm

3． 測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）

4． 數(shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

(2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）

2 mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）

(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

20mV檔以上>10⁸Ω

(4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999

具有性和過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示

5． 恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給

（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

（3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）

6．四探針測試探頭 （1）探頭間距：1mm   (2)探針機械游率：±0.3%

(3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調(diào)

7. 測試架：

（1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

（2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設(shè)有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調(diào)，探頭下降時間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)（由砝碼來設(shè)定）同時設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運動。

8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W

9． 外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

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