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公司名稱:北京恒奧德科技有限公司
聯(lián)系人:李紅慧
電話:010-51666919
手機(jī):15810842463
傳真:010-51666869
郵件:2820129828@qq.com
地址:北京市海淀區(qū)西三環(huán)北路87號(hào)14層1-1401-238
會(huì)員站:http://www.51666869.com

高電流電化學(xué)工作站 型號(hào);HAD-CS1350CS系列電化學(xué)工作站由高速M(fèi)CU、FET集成電路組成,內(nèi)置DDS數(shù)字信號(hào)合成器、高功率恒電...
高電流電化學(xué)工作站 型號(hào);HAD-CS1350
CS系列包括多種型號(hào),可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測(cè)量和應(yīng)用,例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±,槽壓為±21V。電壓控制范圍:±10V;電流控制范圍:±5.0A;電流測(cè)量下限為10pA。
CorrTestTM 測(cè)試軟件是CS電化學(xué)工作站的控制平臺(tái),軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統(tǒng),并遵守Windows軟件規(guī)則,易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有的用戶界面,命令窗口所用的詞匯與的電化學(xué)術(shù)語保持一致,中文菜單和界面,方便用戶的教學(xué)和科研工作。
CorrTestTM 測(cè)試軟件還具有特別針對(duì)材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法,包括鈍化曲線自動(dòng)或人工反掃,電化學(xué)再活化法,溶液電阻(IR降)測(cè)量和補(bǔ)償法。CorrtestTM 分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能,可對(duì)伏安曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算,能對(duì)化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析,包括化電阻Rp,Tafel斜率ba,bc,腐蝕電流密度icorr,腐蝕速率計(jì)算等,還可計(jì)算噪聲電阻Rn和功率譜,并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學(xué)工作站部采用USB2.0接口與計(jì)算機(jī)通訊,設(shè)備安裝簡(jiǎn)單,即插即用。
外形尺寸:36.5cm(寬)*30.5cm(深)*16cm(高) 儀器重量:6.5Kg
應(yīng)用領(lǐng)域
1) 研究電化學(xué)機(jī)理;物質(zhì)的定性定量分析;
2) 常規(guī)電化學(xué)測(cè)試,包括電合成、電沉積(電鍍)性能評(píng)價(jià);
3) 功能和能源材料(電池、超電容器、納米材料、生物傳感器等)的機(jī)理和制備研究;
4) 緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護(hù)效率快速評(píng)價(jià)以及氫滲測(cè)試等;
5) 金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)(包括水/混凝土/土壤等環(huán)境)中的腐蝕電化學(xué)測(cè)試。
儀器配置
1) 儀器主機(jī)1臺(tái) 2) CorrTest測(cè)試與分析軟件1套
3) 電解池(含鹽橋和排氣管)1套 4) 鉑金電、參比電、工作電1支
5) 模擬電解池1個(gè) 6) 電源線/USB數(shù)據(jù)線1條
7) 電電纜線1根 8) 電架 (選配*)
9) 屏蔽箱 (選配*)
指標(biāo)與功能方
硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位電位控制范圍:±10V |
恒電流控制范圍:±5.0A |
電位控制度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV |
電流控制度:0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度:10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz) |
電流靈敏度:<10pA |
電位上升時(shí)間:<1mS(<10mA), |
電流量程:2A~200nA, 共8檔 |
參比電輸入阻抗:1012 W||20pF |
zui大輸出電流:5.0A |
槽壓:±15V |
電流掃描增量:1mA @1A/mS |
CV 和LSV掃描速度:0.01mV~10000V/s |
電位掃描時(shí)電位增量:0.1mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s |
DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz |
CV的zui小電位增量:0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit@1kHz, |
電流與電位量程:自動(dòng)設(shè)置 |
DA分辨率:16bit,建立時(shí)間:1mS |
低通濾波器 :8段可編程 |
接口通訊模式:USB2.0 |
電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器 |
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頻率響應(yīng):10mHz~115KHz(CS1310/CS1350) |
交流信號(hào)幅值:0mV~2500mV |
直流偏壓:-10~+10V |
DDS輸出阻抗:50W |
波形:正弦波,三角波,方波 |
正弦波失真:<1% |
掃描方式:對(duì)數(shù)/線性,增加/下降 |
zui大負(fù)載電容:1nF;zui大負(fù)載電感:10mH |
信號(hào)分析器 |
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積分時(shí)間:zui大值:106個(gè)循環(huán)或者105S |
測(cè)量時(shí)間延遲:0~105秒 |
zui小值:10mS 或者一個(gè)循環(huán)的長(zhǎng)時(shí)間 |
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直流偏置補(bǔ)償 |
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電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍:-10V~+10V |
電流補(bǔ)償范圍:-1A~+1A |
帶寬調(diào)整:自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置, 共8可調(diào) |
CS系列儀器不同型號(hào)功能比較
功 能 方 法 |
CS1120 |
CS1150 |
CS1300 |
CS1310 |
CS1350 |
CS1360 |
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穩(wěn) |
開路電位測(cè)量(OCP) |
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恒電位化 |
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恒電流化 |
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動(dòng)電位掃描(DPP) |
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動(dòng)電流掃描(DGP) |
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暫 |
任意恒電位方波 |
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任意恒電流方波 |
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多電位階躍(VSTEP) |
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多電流階躍(ISTEP) |
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快速電位脈沖 |
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快速電流脈沖 |
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計(jì) |
計(jì)時(shí)電位法(CP) |
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計(jì)時(shí)電流法(CA) |
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計(jì)時(shí)電量法(CC) |
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伏 |
線性掃描伏安法(LSV) |
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循環(huán)伏安法(CV) |
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階梯伏安法(SCV) |
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差分脈沖伏安法(DPV) |
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常規(guī)脈沖伏安法(NPV) |
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方波伏安法(SWV) |
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交流伏安法(ACV) |
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常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV) |
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二次諧波交流伏安 (SHACV) |
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溶 |
恒電位溶出伏安 |
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線性溶出伏安 |
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階梯溶出伏安 |
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方波溶出伏安 |
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交流溶出伏安 |
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交 |
電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描 |
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電化學(xué)阻抗(EIS)~時(shí)間掃描 |
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電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描 |
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腐 |
循環(huán)化曲線(CPP) |
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線性化曲線(LPR) |
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電化學(xué)噪聲 (EN) |
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電偶腐蝕測(cè)量 (ZRA) |
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氫擴(kuò)散測(cè)試(HDT) |
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電 |
電池充放電測(cè)試 |
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恒電流充放電 |
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恒電流間歇充放電 |
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擴(kuò) |
盤環(huán)電測(cè)試 |
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數(shù)字記錄儀 |
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波形發(fā)生器 |
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圓盤電機(jī)控制 |
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