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產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品簡介
微波介質材料目前已經(jīng)廣泛應用于航空航天、微波通信、隱身技術、微波通信、衛(wèi)星通信、電子對抗、雷達導航、遙感、遙測等系統(tǒng)生物醫(yī)學、 電磁兼容等各領域在研發(fā)、生產(chǎn)和使用微波介質材料時都需要測...
產(chǎn)品詳細介紹
AV-40G型微波介質材料電磁特性參數(shù)測試系統(tǒng)
關鍵詞:微波,介質材料電磁,磁導率,電、磁損耗角正切

一、產(chǎn)品介紹:
微波介質材料目前已經(jīng)廣泛應用于航空航天、微波通信、隱身技術、微波通信、衛(wèi)星通信、電子對抗、雷達導航、遙感、遙測等系統(tǒng)生物醫(yī)學、 電磁兼容等各領域在研發(fā)、生產(chǎn)和使用微波介質材料時都需要測試其電磁特性參數(shù),AV-40G型微波介質材料電磁特性參數(shù)測試系統(tǒng)是一款設計采用傳輸反射法進行寬頻帶掃頻測量,主要設備包括矢量網(wǎng)絡分析儀、測試電纜、測試夾具和自動測量軟件,系統(tǒng)用于測量固體介質材料的介電常數(shù)、磁導率,以及電、磁損耗角正切等性能參數(shù)。AV-40G型微波介質材料電磁特性參數(shù)測試系統(tǒng)目前在各大高等院校和科研院所中廣泛使用。
二、產(chǎn)品主要應用方面:
1、航空航天、微波通信、衛(wèi)星通信、
2、隱身技術、電子對抗、雷達導航、
3、遙感、遙測等
4、統(tǒng)生物醫(yī)學、 電磁兼容
三、產(chǎn)品主要特點:
1、測量功能: 可快速、地測量被測件S參數(shù)的幅度、相位和群延遲特性,并根據(jù)誤差模型修正測量結果;
2、相位修正功能: 反射系數(shù)和傳輸系數(shù)計算材料的復介電常數(shù)、復磁導率,及電、磁損耗角正切等性能參數(shù);
3、電磁參數(shù)顯示功能; 二維坐標系顯示復介電常數(shù)、復磁導率,及電、磁損耗角正切等參數(shù);
四、主要技術:
工作頻率范圍: 0.5GHz~40GHz
主機頻率分辨率: 1Hz
主機頻率準確度: ±1ppm(23oC±3 oC)
具體測量方式:同軸空氣N測量或Ku波段波導腔測量可選
測量方式:傳輸反射法
測量點數(shù): ≤1601
工作方式: 掃頻測量
測量重復性: 優(yōu)于±0.5Db
測量參數(shù):介電常數(shù)實部、虛部,磁導率實部、虛部,電、磁損耗角正切
測量波段:S參數(shù)的幅度、相位和群延遲特性
相位修正:二端口網(wǎng)絡端面與校準面關系
系統(tǒng)控制:計算機控制,1、2、5、10、15倍
如果您覺得“北京AV-40G型微波介質材料電磁特性參數(shù)測試系統(tǒng)”描述資料不夠齊全,請聯(lián)系我們獲取詳細資料。(聯(lián)系時請告訴我從給覽網(wǎng)看到的,我們將給您最大優(yōu)惠!)
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關鍵詞:微波,介質材料電磁,磁導率,電、磁損耗角正切

一、產(chǎn)品介紹:
微波介質材料目前已經(jīng)廣泛應用于航空航天、微波通信、隱身技術、微波通信、衛(wèi)星通信、電子對抗、雷達導航、遙感、遙測等系統(tǒng)生物醫(yī)學、 電磁兼容等各領域在研發(fā)、生產(chǎn)和使用微波介質材料時都需要測試其電磁特性參數(shù),AV-40G型微波介質材料電磁特性參數(shù)測試系統(tǒng)是一款設計采用傳輸反射法進行寬頻帶掃頻測量,主要設備包括矢量網(wǎng)絡分析儀、測試電纜、測試夾具和自動測量軟件,系統(tǒng)用于測量固體介質材料的介電常數(shù)、磁導率,以及電、磁損耗角正切等性能參數(shù)。AV-40G型微波介質材料電磁特性參數(shù)測試系統(tǒng)目前在各大高等院校和科研院所中廣泛使用。
二、產(chǎn)品主要應用方面:
1、航空航天、微波通信、衛(wèi)星通信、
2、隱身技術、電子對抗、雷達導航、
3、遙感、遙測等
4、統(tǒng)生物醫(yī)學、 電磁兼容
三、產(chǎn)品主要特點:
1、測量功能: 可快速、地測量被測件S參數(shù)的幅度、相位和群延遲特性,并根據(jù)誤差模型修正測量結果;
2、相位修正功能: 反射系數(shù)和傳輸系數(shù)計算材料的復介電常數(shù)、復磁導率,及電、磁損耗角正切等性能參數(shù);
3、電磁參數(shù)顯示功能; 二維坐標系顯示復介電常數(shù)、復磁導率,及電、磁損耗角正切等參數(shù);
四、主要技術:
工作頻率范圍: 0.5GHz~40GHz
主機頻率分辨率: 1Hz
主機頻率準確度: ±1ppm(23oC±3 oC)
具體測量方式:同軸空氣N測量或Ku波段波導腔測量可選
測量方式:傳輸反射法
測量點數(shù): ≤1601
工作方式: 掃頻測量
測量重復性: 優(yōu)于±0.5Db
測量參數(shù):介電常數(shù)實部、虛部,磁導率實部、虛部,電、磁損耗角正切
測量波段:S參數(shù)的幅度、相位和群延遲特性
相位修正:二端口網(wǎng)絡端面與校準面關系
系統(tǒng)控制:計算機控制,1、2、5、10、15倍
如果您覺得“北京AV-40G型微波介質材料電磁特性參數(shù)測試系統(tǒng)”描述資料不夠齊全,請聯(lián)系我們獲取詳細資料。(聯(lián)系時請告訴我從給覽網(wǎng)看到的,我們將給您最大優(yōu)惠!)
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