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博文明理:寶雞文理學(xué)院采購(gòu)ZJ-3型D33測(cè)試儀四件套設(shè)備
發(fā)布時(shí)間:2024-09-02瀏覽次數(shù):649返回列表
博文明理:寶雞文理學(xué)院采購(gòu)ZJ-3型D33測(cè)試儀四件套設(shè)備
寶雞文理學(xué)院(Baoji University of Arts and Sciences)簡(jiǎn)稱“寶文理”,位于ink_kNZN3" target="_blank">陜西省ink_kNZN3" target="_blank">寶雞市。學(xué)校是陜西省“ink_kNZN3" target="_blank">國(guó)內(nèi)學(xué)科建設(shè)高?!?、ink_kNZN3" target="_blank">碩士學(xué)位授予單位、博士學(xué)位授予單位立項(xiàng)建設(shè)單位、教育部“ink_kNZN3" target="_blank">本科教學(xué)工作水平評(píng)估”學(xué)校,為ink_kNZN3" target="_blank">“一帶一路”高校戰(zhàn)略聯(lián)盟成員。
寶雞文理學(xué)院采購(gòu)ZJ-3型D33測(cè)試儀四件套設(shè)備,包括了ZJ-3型壓電測(cè)試儀,PZT-JH10/4型壓電極化裝置,JKZC-YDZK03A壓電阻抗分析儀,TDZT-04C鐵電測(cè)試儀等裝置,這些設(shè)備對(duì)于本科教學(xué)和材料研究有著重要幫助。
具體資料和技術(shù)如下:
產(chǎn)品名稱 |
招標(biāo)技術(shù)參數(shù) |
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ZJ-3型D333 測(cè)試儀 |
ZJ-3型壓電測(cè)試儀(靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x)是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器,它可用來測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷,小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外,也可測(cè)量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù),儀器測(cè)量范圍寬,分辨率細(xì),可靠性高,操作簡(jiǎn)單,對(duì)試樣大小及形狀無特殊要求,圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量,測(cè)量結(jié)果和極性在三位半數(shù)字面板表上直接顯示。ZJ-3型增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測(cè)波形輸出等功能,使得儀器在測(cè)量未放電(尤其是較大尺寸)的壓電元件時(shí)具備了高電壓放電提示及保護(hù)功能,本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的儀器。
d33測(cè)量范圍:
×1擋:10到2000pC/N,20 至4000pC/N,可以升級(jí)到10000PC/N. 可配D31塊體夾具,D15塊體夾具,D15圓管夾具,薄膜拉伸夾具 可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用
可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機(jī)使用
計(jì)量標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)樣尺寸:18mm*0.8mm,老化時(shí)間:2-3年(評(píng)判壓電測(cè)試儀準(zhǔn)確性能的重要依據(jù)之一) 補(bǔ)充參數(shù):
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TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)
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TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是新一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關(guān)特性,可地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值??蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。
主要技術(shù)指標(biāo): 1.輸出信號(hào)電壓::薄膜:0~±10V 陶瓷、材料:0~±2000V 2.輸出信號(hào)頻率:薄膜材料1-1000HZ,陶瓷:0-1Hz 3.電容范圍:1000nf~ 100nf, 精度: ≤1%。 4.電流范圍: 1nA~10A ,精度: ≤1%。 5、測(cè)試樣品:0-20mm 5個(gè) 6、高壓樣品池:開放式:8CM*5CM 7、三維移動(dòng)薄膜測(cè)試平臺(tái):直立式探針一套 8、電流:1-10倍放大,信號(hào):1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口:USB或BNC接口。 9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,電阻測(cè)量,漏電流測(cè)量。 10.可以配合ZJ-3和ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)
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PZT-JH10/4壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片)
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PZT-JH10/4壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片) 關(guān)鍵詞:壓電極化,壓電陶瓷材料,1-4片
主要特點(diǎn): 1.能夠同時(shí)極化1-4片試樣 2.提供多套測(cè)試夾具(可以測(cè)試粉末,單樣品,及薄的壓電陶瓷片) 2. 安全可靠,溫度補(bǔ)償快、恒溫精度高 3. 每路當(dāng)漏電流超過規(guī)定值時(shí),都具有切斷保護(hù)功能,不影響其它樣片的極化,其它回路可按正常極化時(shí)間完成極化。 4. 任意夾持樣品尺寸為0-40mm片方型或是圓型試樣 7、工作電源:AC220V 50/60HZ 8、額定功率:2.0kw 9、壓電材料極化或耐壓測(cè)試:DC:0-10KV(±5%+2個(gè)字)連續(xù)可調(diào) 10、總電流:10mA 11、每路切斷電流:0.5mA 12、加熱時(shí)間:可以自動(dòng)設(shè)定 13、加熱元件 :優(yōu)質(zhì)電阻絲 14、1次測(cè)試試樣數(shù)量:可加載1-4片試樣 15、額定溫度 :≤180℃ 16、高溫度 :200℃ 17、控溫方式 :智能化恒溫控制(進(jìn)口表),多段程序可控 18、樣片 :樣品尺寸為3-40mm片方型或是圓型試樣 19、外形尺寸 : 875*470*400(mm) 20、極化探頭:優(yōu)質(zhì)銅電極(0.2mm) 21、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm) 21、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量 22、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾具 |
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JKZC-YDZK03A Dielectric tester型 壓電阻抗 測(cè)試儀
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JKZC-YDZK03A Dielectric tester型壓電阻抗測(cè)試儀 關(guān)鍵詞:介電常數(shù),諧振頻率Fp,機(jī)電耦合系數(shù)Ke?,機(jī)械品質(zhì)因素 Qm
JKZC-YDZK03A Dielectric tester型介電測(cè)試儀是一款多功能的介電測(cè)試儀,即可測(cè)試包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),又可以測(cè)量諧振頻率Fs,反諧振頻率Fp,機(jī)電耦合系數(shù) Ke?,機(jī)械品質(zhì)因素 Qm,大導(dǎo)納Gmax等材料參數(shù),為材料研究測(cè)試提供手原始數(shù)據(jù),提供元整的數(shù)據(jù)圖,是高等院校,科研院所及材料研究生產(chǎn)的重要工具,同時(shí)還可以配合高溫設(shè)備,進(jìn)行高溫設(shè)備測(cè)試。
一、主要特點(diǎn): 自動(dòng)平衡技術(shù)電橋,測(cè)量準(zhǔn)確度高 4端對(duì)開爾文測(cè)試端,測(cè)量范圍準(zhǔn)確度高 提供內(nèi)部直流偏壓-5V~+5V 可選配內(nèi)部±40V偏置電壓源 簡(jiǎn)體中文、英文操作語言 分檔測(cè)量、列表掃描、繪圖掃描、開路、短路、負(fù)載校正等等功能 配備電導(dǎo)率σ·介電常數(shù)ε的運(yùn)算功能 進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)、測(cè)試條件保存(U盤或內(nèi)部) 繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤功能 加強(qiáng)的測(cè)試端保護(hù)功能 USB、GPIB、RS232、LAN等上位機(jī)連接接口 二、主要技術(shù)參數(shù) 1、頻率:20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ,50MHZ多種可選 2、D33測(cè)試范圍:0-6000PC/N(選配ZJ-3型壓電系數(shù)測(cè)試儀) 5、基本精度 :0.05% 6、測(cè)試電平: 5mV—2Vrms 7、輸出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 8、測(cè)試參數(shù):D33,電容,介電常數(shù),諧振頻率Fs,反諧振頻率Fp,機(jī)電耦合系數(shù) Ke?,機(jī)械品質(zhì)因素 Qm,大導(dǎo)納Gmax等 9、通道數(shù):1通道 10、電極: 雙面夾持探針 11、軟件:自動(dòng)計(jì)算并輸出數(shù)據(jù),軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì),通過測(cè)量C和D值,自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓多維變化的曲線。 |