公司宣布推出高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)公共測(cè)試平臺(tái)服務(wù)

為了滿足廣大客戶的要求，先我公司推出了高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)公共測(cè)試平臺(tái)，此平臺(tái)免費(fèi)對(duì)外開放。

產(chǎn)品型號(hào)：GWJDN-1000型高溫介電溫譜儀

   用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線?？蓮V泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

主要技術(shù)指標(biāo)：

溫度區(qū)間：室溫~1000℃；

溫度精度：±0.5 ℃

升溫速率：1℃/min~10℃/min；

四通道測(cè)試夾具

測(cè)試頻率范圍：20Hz-120MHz

測(cè)試頻率數(shù)量：1~8個(gè)

測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：4個(gè)

測(cè)試樣品直徑：1.5 mm~20mm

測(cè)試樣品厚度：0.02 mm~4mm

主要特點(diǎn)：

四通道同時(shí)測(cè)量,提高效率,增加對(duì)比測(cè)試的精度;

材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計(jì)夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;

變溫介電頻譜測(cè)試功能；變溫阻抗測(cè)試功能；掃頻測(cè)試功能；

軟件：采用C#語(yǔ)言編寫，可視化程度高，自動(dòng)測(cè)試，同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù)，并圖形化。