ND605 CT參數(shù)分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
? 滿足各類CT（如：保護(hù)類、計(jì)量類、TP類）的勵(lì)磁特性、二次繞組電阻、二次負(fù)荷、比差以及角差、負(fù)載測(cè)量、CT線圈電阻測(cè)量、CT磁化特性記錄、CT暫態(tài)行為測(cè)量(IEC60044-6)、考慮連接負(fù)載的CT變比測(cè)量、CT相位和性測(cè)量、測(cè)定準(zhǔn)確限值參數(shù)(ALF)、儀表安全系數(shù)(FS)、二次時(shí)間常數(shù) (Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、暫態(tài)面積系數(shù)(Ktd)、拐點(diǎn)電壓/電流、等級(jí)、飽和和非飽和電抗。等測(cè)試要求，又可用于各類PT電磁單元的勵(lì)磁特性、變比、性、二次繞組電阻、比差以及角差等測(cè)試。
? 自動(dòng)給出拐點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、儀表保安系數(shù)（FS）、二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、飽和及不飽和電感等CT、PT參數(shù)。
? 測(cè)試滿足GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等各類互感器標(biāo)準(zhǔn)，并依照互感器類型和級(jí)別自動(dòng)選擇何種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。
? 基于的低頻法測(cè)試原理，能應(yīng)對(duì)拐點(diǎn)高達(dá)30KV的CT測(cè)試。
? 界面友好美觀，全中文圖形界面。
? 裝置可存儲(chǔ)2000組測(cè)試數(shù)據(jù)，掉電不丟失。試驗(yàn)完畢后用U盤存入PC機(jī)，用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，并生成WORD報(bào)告。
? 測(cè)試簡(jiǎn)單方便，一鍵完成CT直阻、勵(lì)磁、變比和性測(cè)試，而且除了負(fù)荷測(cè)試外，CT其他各項(xiàng)測(cè)試都是采用同一種接線方式。
? 易于攜帶，裝置重量<9Kg。
? 按照 IEC 60044-1, IEC 60044-6 或 IEEE C57.13 (ANSI 標(biāo)準(zhǔn)) 進(jìn)行測(cè)試和結(jié)果評(píng)估
? 準(zhǔn)確等級(jí)(0.02 %/1 min.)高，可以進(jìn)行0.1級(jí)測(cè)量CT的現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)和驗(yàn)證
? 對(duì)特殊 CT，如 TPS、 TPX、 TPY 和 TPZ 的測(cè)試和自動(dòng)評(píng)估
? 可以進(jìn)行頻率從 16.7 到 400 Hz 的 CT 測(cè)試
? 對(duì)于參數(shù)未知的 CT 進(jìn)行自動(dòng)分析（“猜銘牌”功能）
?
ND605 CT參數(shù)分析儀采用不同負(fù)載和不同一次電流測(cè)試后重新計(jì)算測(cè)試結(jié)果（無(wú)需再進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量）
? 高安全性-所有測(cè)試采用低電壓(120V)，歐州專利EP 1 398 644 A1
? 對(duì)變比(50 000 : 1) 、一次電流 (999 000A max.)、拐點(diǎn)電壓(15kV max.) 幾乎制
? 測(cè)試完成之后自動(dòng)對(duì) CT 退磁
? 數(shù)據(jù)保存在可移動(dòng)閃存卡（CF）中，可以通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存卡讀卡器讀出
? 遠(yuǎn)方接口可以將測(cè)試儀集成入一個(gè)自動(dòng)生產(chǎn)過(guò)程
? 在Microsoft ExcelTM進(jìn)行報(bào)告定制
? 很便利地導(dǎo)入MS OfficeTM 標(biāo)準(zhǔn)軟件里并進(jìn)行編輯
ND605 CT參數(shù)分析儀產(chǎn)品參數(shù)：
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