美國進口VMIC反射內(nèi)存卡GE公司測量和控制解決方案產(chǎn)業(yè)部在以傳感器為基礎(chǔ)的測量、檢驗、資產(chǎn)狀態(tài)監(jiān)測、控制和輻射測量解決方案的方面是一個的變革者，解決方案在廣泛的行業(yè)里

天津新琇科技發(fā)展有限公司成立于2013，主要致力于實時仿真領(lǐng)域，目前交付多臺計算機仿真系統(tǒng)，在航天，航空，航海等專業(yè)有廣泛的用戶群，其中實時仿真系統(tǒng)，反射內(nèi)存卡，GE代理反射內(nèi)存,PCI5565,PCI-5565,PCIE-5565RC,PCIE-5565PIORC,PMC5565PIORC等有著獨特的優(yōu)勢

 反射內(nèi)存卡電子故障注入與診斷

  故障注入是指針對特定的故障模型，有意識的在目標系統(tǒng)中催出故障，加速其錯誤和失效的發(fā)生，通過分析系統(tǒng)對所注故障的回應(yīng)信息，可以驗證其容錯和故障安全等信息。

  對于軍用電子平臺來講，必須具有很高的運行穩(wěn)定性、健壯性和可維修性。因此在軍用電子系統(tǒng)的設(shè)計、研發(fā)和測試過程中充分考慮各種異常狀態(tài)可能帶來的影響，是系統(tǒng)設(shè)計的重要內(nèi)容。故障注入通過模擬電子設(shè)備及其接口可能發(fā)生的異常( 包括物理連接失敗、性能參數(shù)下降、功能失效、時序錯誤等)，可對電子系統(tǒng)進行更的測試和驗證。

  NI 為電子故障注入與診斷提供了佳的軟硬件綜合平臺，結(jié)合基于PXI 總線的故障注入模塊（FIU）、電壓電流激勵源、各種矩陣開關(guān)模塊以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空總線接口模塊可模擬軍用電子設(shè)備與接口所發(fā)生的異常，并且可通過NI 的各種信號調(diào)理與采集模塊將目標系統(tǒng)的回應(yīng)信息進行采集分析。NI LabVIEW、NI TestStand 等軟件為故障注入與診斷提供了的ATE 測試程序開發(fā)與測試流程管理解決方案。

應(yīng)用舉例故障注入綜合測試平臺 器件級的故障注入：通過開放式的程序設(shè)計使設(shè)備可以強制”拉出”和”灌入”電流，注入的短時間可程序控制板級/ 單元級電氣層故障注入：通過開放式的程序設(shè)計使設(shè)備可以產(chǎn)生任意頻率的數(shù)字時序，可以配合矩陣開關(guān)或多路復(fù)用開關(guān)進行故障注入板級/ 單元級物理鏈路層故障注入：使用矩陣/ 多路復(fù)用通用開關(guān)，通過開放式的程序設(shè)計使設(shè)備可以模擬任意通道短路、斷路、信號電阻搭接等故障 同時對于此測試平臺可通過NI TestStand 軟件實現(xiàn)測試管理，且支持ATLAS 和ATML 案例：某研究所基于NI PXI 平臺及相應(yīng)軟件構(gòu)建上述故障注入所需的硬件與軟件試驗環(huán)境 具體看來，基于PXI 的SMU 模塊可實現(xiàn)電流的”拉出”與”灌入”，并通過NI LabVIEW 編寫程序控制時間到ms 量級。 基于PXI 的高速數(shù)字I/O 模塊可以產(chǎn)生任意頻率的數(shù)字時序，配合矩陣開關(guān)模塊進行電氣層故障注入?；赑XI 的FIU 模塊可以實現(xiàn)任意通道的短路、斷路等故障模擬。NI TestStand 測試管理軟件支持LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET等語言編寫的測試用例集成，并支持ATLAS 和ATML 的標準導(dǎo)入，無需編程即可快速而穩(wěn)定地實現(xiàn)綜測平臺的集成工作。

本頁產(chǎn)品地址：http://jssdj.com/sell/show-8352558.html