瑞典Xcounter雙能光子計(jì)數(shù)探測器瑞典Xcounter雙能光子計(jì)數(shù)探測器
FLITEX
瑞典Xcounter雙能光子計(jì)數(shù)探測器
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光
子計(jì)數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于強(qiáng)大的
CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬
泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時(shí)間延遲總和
（TDS）模式，掃描速度zui高90mm/s。
引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能，是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的
之處，在雙能采集過程中，通過兩個(gè)的閾值將探測到的光子
能量加以比較，并分別讀出，雙能設(shè)置可用作材料分析，這為新
的醫(yī)學(xué)和工業(yè)X射線成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的運(yùn)用，確
保將每一個(gè)光子信號分布在適當(dāng)?shù)南袼攸c(diǎn)上，從而獲得更高的能
量分辨率。
集成
XC-FLITE X系列，通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計(jì)算機(jī)
上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可
用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺。
小范圍輻照
小動(dòng)物成像
實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像
工業(yè)檢測（NDT）
特點(diǎn)&
三種尺寸可選
CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
自掃描設(shè)計(jì)，透明可見
雙能采集，具有材料區(qū)分能力
反符合技術(shù)，的能量分辨率
可基于幀率成像，也可以選擇時(shí)間
掃描速度zui高90mm/s
兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到
配有功能強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件
應(yīng)用
延遲總和（TDS）模式
Windows8
雙能光子計(jì)數(shù)X射線探測器
系列
XC-FLITE X系列的產(chǎn)品內(nèi)部具有一個(gè)精心設(shè)計(jì)的掃描驅(qū)動(dòng)元件，
可自動(dòng)控制，整個(gè)掃描過程是完全透明可見
物理參數(shù)
尺寸 （L×W×H）：XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm
XC-FLITE X2：54.2×40.2×8.7cm
XC-FLITE X3：63.0×57.1×8.5cm
成像面積：X1：15cm×15cm
X2：30cm×30cm
X3：45cm×45cm
溫度控制：Internal Peltier溫度控制
環(huán)境溫度：+10 - +40℃
儲(chǔ)藏溫度：-10-+60℃ @ 10% - 95% 濕度
射線窗：碳纖維， 厚500 微米
射線屏蔽：根據(jù)應(yīng)用
傳感器
傳感器數(shù)量：X1：1 X2：2 X3：3
傳感器類型：雙能光子計(jì)數(shù) CdTe-CMOS
傳感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe
有效面積：X1：154.7×12.8mm(1536×128像素)
X2：309.4×12.8mm(3072×128像素)
X3：464.1×12.8mm(4608×128像素)
像素：
像素填充率：
性能
zui大掃描速度：X1：90 mm/s X2 & X3：255 mm/s
幀率：zui高1000 fps （也可選擇時(shí)間延遲總和模式）
動(dòng)態(tài)范圍：12 bits
像素合并：1×1，2×2， 4×4
曝光時(shí)間：100us-5s
DQE（0）： 85%@RQA5 spectra
MTF：＞80% @ 2lp/mm,＞45% @ 5lp/mm
管KV范圍：15-250kVp
內(nèi)部測試模式：偽隨機(jī)調(diào)試模式
外部觸發(fā)輸出：3.3V TTL
輸入5V
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