光譜橢偏儀 產(chǎn)品型號(hào)：SE400adv 簡要描述：高性能橢偏儀，針對(duì)粗糙表面硅太陽能電池的測(cè)量裝置，擁有業(yè)內(nèi)zui高測(cè)量度。技術(shù)參數(shù) ■ 膜

北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司是一家新能源科技公司，致力于太陽能光伏產(chǎn)業(yè)。提供光伏生產(chǎn)所用硅料的分選、檢驗(yàn)、檢測(cè)設(shè)備及相關(guān)設(shè)備配件，幫助您識(shí)別高質(zhì)量的硅料，減少采購或銷售的風(fēng)險(xiǎn)。
        
    我公司經(jīng)營的主要產(chǎn)品有：硅料分選測(cè)試儀（電阻率，PN型識(shí)別）、電阻測(cè)試儀、排重?fù)綔y(cè)試儀、少子壽命測(cè)試儀、測(cè)厚儀、碳氧磷硼含量測(cè)試儀，表面線痕測(cè)試儀，光譜橢偏儀，透過率測(cè)試儀、相關(guān)產(chǎn)品配件，以及鎵摻雜劑、母合金摻雜劑，異丙醇，雙氧水等耗材。

    羲和的名稱來源于中國的太陽神羲和女神，作為太陽能光伏產(chǎn)業(yè)的一份子，為提高太陽能電池生產(chǎn)過程的可控性，最大限度的減少過程風(fēng)險(xiǎn)，羲和科技在不懈追求、積極探索，我們深感肩頭的重任，我們會(huì)倍加努力，持之以恒，給您提供最優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品、最優(yōu)惠的價(jià)格和最滿意的服務(wù)。

光譜橢偏儀
產(chǎn)品型號(hào)：SE400adv
簡要描述：高性能橢偏儀，針對(duì)粗糙表面硅太陽能電池的測(cè)量裝置，擁有業(yè)內(nèi)zui高測(cè)量精確度。






技術(shù)參數(shù)
■ 膜厚范圍：0-30000nm
■ 折射指數(shù)：± 0.0001
■ 厚度準(zhǔn)確度：± 0.01nm
■ 入射角度：20 - 90°
■ 波長范圍：250-1100nm（深紫外、近紅外、紅外可選）
■ Psi=±0.01°，Delta=±0.02°



特點(diǎn)
■ 光譜范圍：UV/VIS range 250 - 1100 nm，可選擴(kuò)展光譜范圍NIR (700 - 1700 nm) or (700 - 2100 nm)、UV-VIS 范圍(190 - 1100 nm) ；

■ 自動(dòng)旋轉(zhuǎn)起偏器可精確測(cè)量任意偏振狀態(tài)；

■ 步進(jìn)掃描分析儀可高速采集低噪音信號(hào)；

■ 可變角度范圍：from 10-90°，可升級(jí)為自動(dòng)變角度10-90°控制 ；

■ 單層薄膜/多層薄膜快速薄膜厚度、折射率測(cè)量；

■ 專業(yè)測(cè)試軟件可大范圍Psi和Delta數(shù)據(jù)自動(dòng)測(cè)量，并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行采集和分析，內(nèi)置幾百種材料數(shù)據(jù)庫；

■ 可擴(kuò)展二維自動(dòng)掃描平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)(50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm)Mapping測(cè)量功能以及3D分析；


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