JK-600S高溫電學探針熱臺
探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產(chǎn)品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)控制，與其他電學儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。
1、 可以搭配阻抗分析儀，高阻計，電化學工作站，數(shù)字源表進行功能材料電學的相關測試
2、 軟件開發(fā)可以進行高溫介電溫譜測試、電阻，電阻率測試，熱電，熱釋電，TSDC等測量功能。
產(chǎn)品特點：
溫度范圍：RT~600℃
溫度穩(wěn)定性：±0.1℃
升降溫速度：0~30℃/min
氣密腔室設計，可升級真空
詳細參數(shù)一覽表：
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探針熱臺 |
JK-600S |
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溫控模塊 |
冷熱方式 |
電阻加熱 |
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溫控范圍 |
RT～600℃ * |
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溫度穩(wěn)定性 |
±0.1℃ * |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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升降溫速率 |
0~30℃/min（可定點 / 程序段控溫），大150℃/min |
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溫控方式 |
PID |
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溫度傳感器 |
PT100 |
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光學特性 |
光路 |
透射光路 *可選反射光路 |
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視窗材質(zhì) |
石英玻璃（可手動拆卸換） * |
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視窗尺寸 |
Φ25mm * |
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物鏡工作距離 |
7mm * |
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透光孔 |
默認透光孔 *可選無透光孔 |
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電學特性 |
探針 |
2個磁吸式探針/4個磁吸式探針 手動定位 * |
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探針接口 |
BNC接口 *可選SMA接口 |
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樣品臺面電位 |
默認電懸空 *可選電接地 |
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結(jié)構(gòu)特性 |
樣品臺尺寸 |
20×20mm * |
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樣品臺材質(zhì) |
不銹鋼 * |
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外形尺寸 |
116×110×25mm * |
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樣品腔高度 |
6mm * |
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腔室 |
氣密 *可升級真空 |
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外殼冷卻 |
循環(huán)水 |
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基本配置 |
探針熱臺x1、溫度控制器x1、循環(huán)水系統(tǒng)x1、溫控軟件x1 |
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選配 |
電腦主機/安裝支架/真空系統(tǒng)/定制溫控軟件 |
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備注 |
以上均為默認參數(shù) * 為可定制項
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可進行多種電學功能測試
1、 高溫介電溫譜測試
2、 絕緣電阻測試
3、 四探針電阻率測試
4、 熱電測試儀，TSDC熱刺激電流測試，熱釋電測試
、介電溫譜測試圖
第二、高溫介電測試
模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;測量方式:軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;
測量參數(shù): s介電常數(shù)、 (E'、t"介電常數(shù)實部與虛部)、C電容、(C'、C"電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R""電阻實部與虛部).Z、(Z'、Z"阻抗實部與虛部)、Y導納、Y.Y”(導納實部與虛溫度設置:可設置升溫速度、降溫速度、大溫度、測量等待時間等;
測量頻率:軟件可設置測試的頻率;
數(shù)據(jù)處理:測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;圖像處理:測量曲線可保存。
高溫介電測試
第三、測量曲線（電阻、熱釋電、TSDC測量)
電阻測量模式:
1、電阻測量模式:
2、連續(xù)測量模式:升降溫連續(xù)采集。2、保持測量:指達到溫度后進行測量采集TSDC測量:
3、通過液氮進行低溫試驗。
熱釋電參數(shù)測試
TSDC熱刺激電流測試
電阻測試
