- 會員指數(shù):
- 企業(yè)認證:
- 聯(lián)系人:張經(jīng)理(女士) 市場部
- 地區(qū):山東-濟南市
-
MIE氏散射理論實驗及在激光粒度分析技術應用的研究
 |
|
|
 |
詳細介紹
摘要： Mie理論是對處于均勻介質(zhì)中的各向均勻同性的單個介質(zhì)球在單色平行光照射下的Maxwell方程邊界條件的嚴格數(shù)學解，它是目前光學顆粒測試技術(尤其是激光粒度儀設計)采用的的主流理論。本文簡述了MIE氏光散射的相關理論。設計了一套采用光子技術測量亞微米量級顆粒散射信息的實驗系統(tǒng)。在這套系統(tǒng)中通過計算分析，確定了樣品池的合理入射角，并合理地設計探測角度。此外，提出了“虛光源”的概念并討論了在實驗中的應用。運用該實驗系統(tǒng)分別對0.13um和0.3um兩種粒徑的顆粒進行了測量，在考慮樣品池鏡面反射及透射率的情況下，對所測原始數(shù)據(jù)進行處理，并與理論模擬結果進行了比較，該實驗系統(tǒng)所得到的結果與理論模擬結果有非常好的一致性，且該試驗系統(tǒng)能夠很好地測量小顆粒后向散射信息。因為后向散射信息是區(qū)分小顆粒粒度分布的重要信息，所以該實驗系統(tǒng)對小顆粒有較高的分辨率。并在此基礎上提出新一代亞微米顆粒粒度分析儀的設計構想。
推薦資料
本類下載排行
總下載排行