X熒光光譜儀的原理及優(yōu)點(diǎn)介紹

x熒光的基本原理：當(dāng)束能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，對(duì)應(yīng)的形成個(gè)空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。此后在很短時(shí)間內(nèi)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，以降低原子能。當(dāng)較外層的電子躍遷（符合量子力學(xué)理論）至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了x熒光。x熒光的能量與入射的能量無(wú)關(guān)，它只等于原子兩能之間的能量差。由于能量差由該元素原子的殼層電子能決定，故稱之為該元素的特征x射線，也稱熒光x射線或x熒光。  x熒光光譜法就是由x射線光管發(fā)生的次x射線激發(fā)樣品，試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的特征x射線熒光，需要把混合的x射線按波長(zhǎng)（或能量）分開(kāi)，分別測(cè)量不同波長(zhǎng)（或能量）的x射線的強(qiáng)度，以行定性和定量分析的方法。

 1、優(yōu)點(diǎn)

  1) 分析時(shí)間短。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定度有關(guān)，但般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)樣品中的待測(cè)元素。

  2) 適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在分辨率的測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。

  3) 非破壞分析，重現(xiàn)性好。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

  4) X射線熒光分析是種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同族的元素也能行分析。

  5) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以行分析。

    6) 分析度。