線熒光光譜法元素分析儀是種用于金屬件材料可靠性鑒別以確認(rèn)所用金屬或合號(hào)是否正確無誤的簡便的方法。用X射線熒光光譜法元素分析儀行材料鑒別需注意相關(guān)的事項(xiàng)
    材料可靠性鑒別(PMI)在金屬制、石化生產(chǎn)以及消費(fèi)產(chǎn)品中起到重要作用。
    由于發(fā)射和接收的X射線率較低，將分析儀貼近試樣就非常重要。理想情況下，試樣應(yīng)當(dāng)與儀器窗口面直接接觸。如果試樣具有復(fù)雜的幾何形狀那么就會(huì)存在很大難度，但Vanta分析儀的狹窄輪廓外形能夠讓儀器充分貼近諸如以90度角的卷邊焊縫材料。
    對(duì)于諸如鋁制類的輕合金，XRF分析儀只能對(duì)試樣表面深度幾百微米行測量。對(duì)于鑄鐵或銅等主要金屬，XRF分析儀對(duì)試樣的測量深度小于百微米。而對(duì)于金或鉛等致密材料，其僅能測量表面的數(shù)十微米。這就意味著材料表面準(zhǔn)確體現(xiàn)總體成分這點(diǎn)非常關(guān)鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會(huì)對(duì)分析成大影響。與此類似，噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用XRF分析儀行檢測之前務(wù)對(duì)試樣行清潔。