EDX鍍層測厚儀完全可以滿足鍍件RoHS測試需求。鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。使用EDX鍍層測厚儀時，以下幾點不可忽視:
一、被測物零界厚度的控制
電鍍鍍層測厚儀在測量厚度時候，是有測試范圍的，并不是對所有的樣板都能實現(xiàn)測量，凡是被測物的厚度一定不能超過零界厚度，要知道一旦超過零界值，不僅實現(xiàn)不了厚度的測量，同時還有可能對PCB鍍層厚度分析儀造成一定程度上的破壞。
二、選對測量方式
電鍍鍍層測厚儀方式有種形式，比如X射線、磁性、電解以及渦流等等，每一種測量方式都有對應(yīng)性，測試屬性是有一定差異性的，對此用戶在使用設(shè)備進行測試之前，一定要選好合理的測量方式，避免有測量方式?jīng)]有選對而影響zui終測量數(shù)據(jù)的不性。
三、曲率控制
電鍍鍍層測厚儀在材料樣件測量中，特別是擺放樣件時，對曲率的控制一定不能忽視，曲率控制不到位直接導(dǎo)致的結(jié)果就是測量范圍不，上下浮動比較大，在這一點上電鍍鍍層測厚儀使用者要明白曲率不在控制范圍內(nèi)，一般情況下是樣件彎曲程度出現(xiàn)問題，從而使得測量值不可靠。
四、測試方向的設(shè)定
為保證測量數(shù)據(jù)的性，要將EDX鍍層測厚儀的側(cè)頭和被測物的表面保持垂直，另外在被測物角度上也要做好控制，避免出現(xiàn)傾斜。