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價(jià)格:電議
所在地:上海
型號(hào):
更新時(shí)間:2011-06-29
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公司地址:上海市四平路775弄1號(hào)1115室
vicky(先生)
瑞典凱戈納斯有限公司上海代表處是由瑞典Hot Disk有限公司,英國(guó)THT有限公司共同注資成立的。公司開(kāi)發(fā)、制造并銷(xiāo)售導(dǎo)熱系數(shù)分析儀、反應(yīng)量熱儀、Pka/LogP和溶解度分析儀等世界一流的先進(jìn)分析儀器,同時(shí)是以色列Nanonics原子力顯微鏡AFM/掃描探針電鏡SPM以及AFM+Raman+I(xiàn)R+SEM/SPM一體連用測(cè)試技術(shù)、美國(guó)Pion滲透性分析儀在國(guó)內(nèi)的獨(dú)家代理。公司在全球范圍內(nèi)擁有眾多系統(tǒng)用戶,并在英國(guó)、美國(guó)、德國(guó)、日本等二十個(gè)國(guó)家和地區(qū)設(shè)立了分支機(jī)構(gòu)。
瑞典Hot Disk公司主要開(kāi)發(fā)、制造并銷(xiāo)售基于瞬變平面熱源技術(shù)(TPS)的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率和比熱容的測(cè)試儀器;英國(guó)THT公司是一家專(zhuān)業(yè)開(kāi)發(fā)制造量熱儀和提供化工領(lǐng)域安全咨詢和產(chǎn)品檢測(cè)服務(wù)的公司;以色列NANONICS IMAGING LTD.是業(yè)界將近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡NSOM技術(shù)和原子力顯微鏡AFM相技術(shù)相結(jié)合的領(lǐng)頭羊,NANONICS憑借著實(shí)力和品質(zhì),其產(chǎn)品涉足的領(lǐng)域從科研到工業(yè),從生物學(xué)到半導(dǎo)體,從化學(xué)制品到無(wú)線電通訊,應(yīng)用范圍極其廣泛。公司新近推出了材料表征連用技術(shù),包括Nanonics系列電鏡(AFM、SPM)與Renishaw拉曼光譜儀、Smith在線紅外技術(shù)和掃描電鏡SEM的組合一體機(jī),具有很高的性價(jià)比和競(jìng)爭(zhēng)力;美國(guó)Pion有限公司是藥物ADME(吸收、分布、代謝和排泄)研究領(lǐng)域的領(lǐng)頭軍,其產(chǎn)品分布在全球各大知名制藥公司研發(fā)部門(mén)和醫(yī)藥科研院所,旗下系列產(chǎn)品PAMPA人造膜滲透性分析儀是測(cè)試大量藥物滲透性的最終平臺(tái),PAMPA的技術(shù)優(yōu)勢(shì)自1998年已經(jīng)開(kāi)始穩(wěn)步增長(zhǎng),細(xì)胞培養(yǎng)的高成本和復(fù)雜性加速了全球藥劑學(xué)公司采用PAMPA系統(tǒng)。它能提供用戶樣品制備、測(cè)試、數(shù)據(jù)分析和完整測(cè)試結(jié)果呈現(xiàn)的“交鑰匙”系統(tǒng);提供給沒(méi)有全自動(dòng)控制測(cè)試系統(tǒng)的用戶一個(gè)試用版本。
技術(shù)參數(shù)
1 近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡NSOM操作模式: 透射模式,反射模式,收集模式,照明模式
2 原子力顯微鏡AFM操作模式: 敲擊模式,接觸模式選配,所有探針或樣品掃描的AFM操作模式
3 微分干涉對(duì)比DIC : 反射和透射
4 折射率成像Refractive-Index Profiling: 反射和透射
5 在線遠(yuǎn)場(chǎng)共聚焦和拉曼及熒光光譜成像: 反射和透射,針對(duì)選擇性拉曼散射超薄膜的探針增強(qiáng)拉曼散射
6 熱傳導(dǎo)及擴(kuò)展電阻成像: 接觸模式,敲擊模式,音叉反饋模式無(wú)反饋激光引入干擾信號(hào),選配;熱探針可作為納米加熱器使用,納米熱分析、納米相轉(zhuǎn)變等應(yīng)用
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SPM掃描頭規(guī)格
1 樣品掃描器:壓電材料制薄片掃描器 3D Flat Scanner™;厚度為7毫米
2 SPM掃描范圍: 樣品掃描,zui大100 microns XYZ
3 掃描分辨率: < 0.005 nm Z
< 0.015 nm XY
< 0.002 nm XY 低電壓模式
4 粗調(diào)定位范圍:6毫米
5 反饋機(jī)制:懸臂梁光束反彈反饋,音叉反饋選配
6 樣品尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配置下,直徑zui大至16毫米;正置顯微鏡下使用,直徑zui大至34毫米 特殊樣品形狀:如豎直樣品進(jìn)行邊緣成像等
7 探針:各種針尖外露的玻璃探針,各種常規(guī)懸臂梁硅探針均可使用
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成像分辨率1 遠(yuǎn)場(chǎng): 受光衍射幾何限制
2 光學(xué): 500納米
3 共聚焦: 200納米
4 近場(chǎng)掃描光學(xué): 100納米,極端條件下可達(dá)到50納米由探針孔徑?jīng)Q定
5 形貌: Z向噪聲0.05納米 rms;XY橫向分辨率:由針尖直徑和樣品的卷積決定
6 熱成像: 100納米起,溫度靈敏度0.01ºC,300 ºC或更高由樣品決定
7 電阻成像: 25納米