日置3504-50,日置Hioki 3504-50電容測(cè)試儀：Hioki 3504-50封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等.高速測(cè)量2ms.能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷.對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能.3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試....

日置3504-50,日置Hioki 3504-50電容測(cè)試儀
Hioki 3504-50封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等.高速測(cè)量2ms.能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷.對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能.3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試.

封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等

● 高速測(cè)量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

日置3504-50,日置Hioki 3504-50電容測(cè)試儀
基本參數(shù)：

測(cè)量參數(shù)	Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）
測(cè)量范圍	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測(cè)定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù)
測(cè)量頻率	120Hz, 1kHz
測(cè)量信號(hào)電平	恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測(cè)量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
輸出電阻	5Ω（CV測(cè)量范圍以外的開路端子電壓模式時(shí)）
顯示	發(fā)光二級(jí)管 （6位表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定）
測(cè)量時(shí)間	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同
功能	BIN分類測(cè)量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)
電源	AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, zui大110VA
體積及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說明書×1

日置3504-50,日置Hioki 3504-50電容測(cè)試儀
測(cè)試冶具或電纜(選購) 打印機(jī) PC 通訊器

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