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產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品簡介
能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)產(chǎn)品特點1. 采用的美國原裝進口SDD(SILICON DRIFT DETECTOR)硅漂移探測器...
產(chǎn)品詳細介紹
能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)
產(chǎn)品特點
1. 采用的美國原裝進口SDD(SILICON DRIFT DETECTOR)硅漂移探測器,分辨率更高,大大提高了輕元素的檢出限,標準檢出限較SI-PIN探測器提高100倍;測量范圍更寬,基本涵蓋了各種常規(guī)材料元素分析要求;
2. 配置美國原裝進口數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng),數(shù)據(jù)采集速度更快,測量更穩(wěn)定,重復(fù)性和長期穩(wěn)定性更好;
3. 配置新開發(fā)的專用測量軟件,集成多種圖形計算方法,測量數(shù)據(jù)更,更穩(wěn)定;
4. 軟件監(jiān)控儀器主要核心部件運行狀態(tài),使用更安全;
5. 配置專門開發(fā)的真空系統(tǒng),真空性能更好,測試效果更佳;
技術(shù)參數(shù):
1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
2..元素含量分析范圍為1ppm到99.99%
3. zui低檢出限:1ppm
4. 測量時間:60-200秒(可調(diào))
5. 儀器工作電源:AC220±5V
6. 能量分辨率為129±5eV
7. X 射線光管zui大輸出電流:1mA
8. 限壓力:6.7×10-2 Pa
9.樣品腔尺寸:610*320*100(mm)(不抽真空)/Φ100*h75(mm) (真空樣品腔)
10.多次測量重復(fù)性(以標準樣品為準):±0.05%(高含量)/±0.002%(微量)
11.長期工作穩(wěn)定性(以標準樣品為準)±:0.06% (高含量)/±0.0025%(微量)
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