Morphologi G3 自動顆粒形態(tài)表征系統(tǒng)是滿足您上述需求的分析工具。此系統(tǒng)將高質量圖像和具有統(tǒng)計意義的顆粒形狀、大小測量方

英國馬爾文儀器有限公司是激光粒度分析儀的發(fā)明人，世界最著名的激光粒度儀專業(yè)生產(chǎn)廠家，其產(chǎn)品分布于石化、石油、陶瓷、粉體、涂料、制藥、水泥、軍工等各個領域，占有世界絕大部分激光粒度儀市場。許多領域指定要用該儀器進行質量檢測和控制。

英國馬爾文儀器有限公司成立于1963年，位于英國知識密度最高的馬爾文城。公司前身是英國國防工業(yè)實驗室。1970年制造出世界第一臺商用激光粒度分析儀并成立公司，隨后生產(chǎn)出世界上第一臺激光PCS納米粒度及Zeta電位分析儀，第一臺超聲粒度分析儀，成為舉世公認的激光粒度分析技術的先鋒及行業(yè)標準

馬爾文儀器公司還是世界領先的專業(yè)流變儀制造商,是目前世界上唯一能同時生產(chǎn)高性能旋轉流變儀和毛細管流變儀的公司.馬爾文公司在上海建立了中國流變應用支持中心,擁有龐大的大學,科研院所,政府實驗室和跨國公司等工業(yè)用戶群體.

馬爾文公司十分注重技術開發(fā)，技術創(chuàng)新,并不斷進取,獲得的主要技術獎項包括：

1977 IEE McRobert 杰出技術創(chuàng)新獎
1977 英國女王技術貢獻獎
1981 英國女王出口貢獻獎
1987 TASC分析儀器獎
1988 英國女王技術貢獻獎
1988 英國女王出口貢獻獎

1993 工程安全工作者獎
1994 英國安全委員會獎
…………
2003 IBO分析及生化儀器設計獎
2003 Zetasizer Nano獲得工業(yè)設計金獎
2006 英國女王企業(yè)國際貿(mào)易獎
2008 Morhologi G3獲得Instrument Business Outlook分析儀
器行業(yè)設計金獎

目前，馬爾文公司在全球有多個分公司，用戶遍及世界86個國家和地區(qū)，銷售量占世界第一，中國第一,并已獲得ISO9001標準認證、歐洲EMC標準認證、GMP標準認證，其激光衍射法粒度分析儀完全通過了強大的美國FDA的QSpec認證，是唯一通過所有認證的粒度儀。

馬爾文全心致力于激光粒度儀的完美及提高，不斷推出新產(chǎn)品。其MASTERSIZER系列（MS Micro, MS S, MS 2000）激光粒度分析儀, Zetasizer Nano系列高性能納米粒度和Zeta電位分析儀，及最新推出的Kinexues超級旋轉流變儀等等集中體現(xiàn)了當今科技發(fā)展的最新成果，一問世立即得到科技界的高度評價和用戶的廣泛歡迎，被認為代表了21世紀的發(fā)展趨勢和方向。

馬爾文在中國的用戶以每年20%以上的速度增長。為了給用戶最大的應用支持，馬爾文公司在網(wǎng)上開通了多媒體教學課程，在總部設有HelpDesk,保證及時回復用戶疑問，在中國設有應用實驗室和技術服務中心，并有專家巡回中國為用戶服務。我們相信，作為粒度表征和流變測量技術的領航者，馬爾文公司的產(chǎn)品必將為我國高新技術的發(fā)展起到積極的推動作用。

作為思百吉集團成員,馬爾文儀器（中國）共有4個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京,廣州和成都.作為亞太區(qū)技術中心的上海總部內建有200多平方米的實驗室,完善的實驗室設備可以提供客戶售前測樣,及其售后培訓的配套服務與優(yōu)良的技術支持.位于北京的辦事處同樣配備實驗室為客戶提供完善服務.

Morphologi G3 自動顆粒形態(tài)表征系統(tǒng)是滿足您上述需求的新型分析工具。此系統(tǒng)將高質量圖像和具有統(tǒng)計意義的顆粒形狀、大小測量方法組合在一起。

我們完全集成式的干粉分散系統(tǒng)設計新穎，可縮短樣本制備時間，并顯著提高測量的可重復性。

Morphologi G3 自動顆粒形態(tài)表征系統(tǒng)功能強大且直觀的數(shù)據(jù)分析工具，可確保您從測量數(shù)據(jù)中獲得豐富的結果。

顆粒大?。?Morphologi G3 使用不同的放大倍數(shù)確保對整個顆粒大小范圍 (0.5?m – 3000?m) 的高分辨率，可使用圓當量直徑參數(shù)精確測量顆粒大小。
  顆粒形狀：可計算各種顆粒形狀參數(shù)，例如延伸度、圓度和凸起度等。這些參數(shù)可識別和量化樣本間的細微差別，而那些只能測量顆粒大小的技術則無法識別這些不同。
  顆粒數(shù)量和雜質顆粒檢測：實際上，樣本中的所有顆粒都可以被單獨測量并記錄，這使得圖像分析系統(tǒng)能夠出于某些目的(例如顆粒雜質檢測)計算某類顆粒的數(shù)量。

Morphologi G3 自動顆粒形態(tài)表征系統(tǒng)簡介：

完全集成的干粉分散劑： 我們完全集成式的干粉分散系統(tǒng)設計新穎，可縮短樣本制備時間，并顯著提高測量的可重復性。
  統(tǒng)計意義： 只需單擊一下鼠標，便可分析成千上萬的顆粒！
  消除用戶偏差：標準操作程序 (SOP) 方法可客觀地記錄和控制所有儀器參數(shù)(例如，焦距、光線強度、放大倍數(shù))。在一臺儀器上開發(fā)的方法可通過單一電子文件進行全局傳送。
  保存高質量圖像： 對每個單一顆粒圖像都能進行觀察和記錄，從而可目視驗證破裂顆粒、凝聚物、精細顆粒和雜質顆粒等的存在。
  精確、可重復和“可驗證”：為確保數(shù)據(jù)的一致性，圖像分析系統(tǒng)在每次顆粒分析前后，都要使用 NPL(National Physical Laboratory，英國國家物理研究所)的多段光柵可跟蹤技術進行自動校準。此圖像分析儀符合 21CFR 第 11 部分的要求，并可提供完整的 IQ/OQ(安裝認證/操作認證)文檔。

本頁產(chǎn)品地址：http://jssdj.com/sell/show-229741.html