一、HAD-JDC概述：
   HAD-JDC型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.HAD-JDC介電常數(shù)測試儀采用了多項技術。
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低，徹底根除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。